[发明专利]SAS连接器导通检测系统及其方法

说明书

本发明公开一种SAS连接器导通检测系统及其方法，属于连接器技术领域。本发明的SAS连接器导通检测系统通过检测电路板上的SAS连接器与主板的主板SAS连接器彼此插接，通过检测电路板上的JTAG输入连接器与JTAG输出连接器使检测电路板以及测试存取端口控制器彼此之间可形成串接，每一个检测电路板可以单独提供主板的一个主板SAS连接器的导通检测，由此可以达成提高SAS连接器检测效率的技术功效。

技术领域

本发明公开一种检测系统及其方法，尤其是指一种通过检测电路板上的SAS连接器与主板的主板SAS连接器彼此插接，通过检测电路板上的JTAG输入连接器与JTAG输出连接器使测试存取端口控制器彼此之间可形成串接的SAS连接器导通检测系统及其方法。

背景技术

主板/SC SAS连接器上信号的测试，之前的SC测试基本上采用的是Function测试。业内很多是购买SAS测试治具，通过治具和被测设备的高速差分通信来进行诊断，这种测试治具通常成本会很高(一般会需要功能较强的MCU及周边电路)。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有对于SAS连接器检测成本过高的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在现有对于SAS连接器检测成本过高的问题，本发明遂公开一种SAS连接器导通检测系统及其方法。

本发明所公开的SAS连接器导通检测系统，其包括：主板以及检测电路板，主板还包括：多个主板SAS连接器以及边界扫描芯片；检测电路板还包括：SAS连接器、JTAG输入连接器、JTAG输出连接器、缓冲器、复杂可程序逻辑装置(Complex Programmable LogicDevice，CPLD)、第一JTAG芯片、第二JTAG芯片、第一多任务器、第二多任务器、微处理器、电子抹除式可复写只读存储器、模拟数字转换器以及稳压器。

主板上的边界扫描芯片分别与主板上的主板SAS连接器形成电性连接。

SAS连接器分别与复杂可程序逻辑装置、第一JTAG芯片、第二JTAG芯片、模拟数字转换器以及稳压器形成电性连接；JTAG输入连接器分别与JTAG输出连接器、缓冲器以及第一多任务器形成电性连接；JTAG输出连接器分别与JTAG输入连接器以及第一多任务器形成电性连接；缓冲器分别与JTAG输入连接器、JTAG输出连接器以及复杂可程序逻辑装置形成电性连接；复杂可程序逻辑装置分别与缓冲器、第一JTAG芯片、SAS连接器以及微处理器形成电性连接；第一JTAG芯片分别与SAS连接器、复杂可程序逻辑装置以及第二JTAG芯片形成电性连接；第二JTAG芯片分别与SAS连接器以及第一JTAG芯片形成电性连接；第一多任务器分别与JTAG输入连接器、JTAG输出连接器、复杂可程序逻辑装置以及微处理器形成电性连接；第二多任务器分别与微处理器、电子抹除式可复写只读存储器以及模拟数字转换器形成电性连接；微处理器分别与复杂可程序逻辑装置、第一多任务器、第二多任务器以及模拟数字转换器形成电性连接；电子抹除式可复写只读存储器与第二多任务器形成电性连接；模拟数字转换器分别与SAS连接器、第二多任务器以及微处理器形成电性连接；稳压器分别与第一多任务器以及电源形成电性连接；及当检测电路板通过SAS连接器插接于主板的主板SAS连接器时，每一个检测电路板可以单独提供主板的一个主板SAS连接器的导通检测。

本发明所公开的SAS连接器导通检测方法，其包括下列步骤：