[发明专利]微波泄漏检测方法及微波设备有效
申请号: | 201811270135.4 | 申请日: | 2018-10-29 |
公开(公告)号: | CN109195244B | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 史龙 | 申请(专利权)人: | 广东美的厨房电器制造有限公司;美的集团股份有限公司 |
主分类号: | H05B6/64 | 分类号: | H05B6/64 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
地址: | 528311 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微波 泄漏 检测 方法 设备 | ||
1.一种微波泄漏检测方法,用于微波设备,其特征在于,所述微波设备包括至少一个微波源,所述微波泄漏检测方法包括:
启动所有所述微波源;
检测所有所述微波源的入射功率及反射功率;
计算所有所述微波源的入射功率之和及反射功率之和;
根据所述入射功率之和、所述反射功率之和、所述微波设备的吸收功率获得所述微波设备的泄漏功率;
判断所述泄漏功率是否大于泄漏功率阈值;
在所述泄漏功率大于所述泄漏功率阈值并且所述泄漏功率大于所述泄漏功率阈值的持续时长大于预设时长时,控制所述微波设备提示微波泄漏并关闭所有所述微波源。
2.如权利要求1所述的微波泄漏检测方法,其特征在于,所述微波设备包括腔体,在所述腔体内放置有负载时,所述吸收功率包括所述腔体及所述腔体内的空气的吸收功率和所述负载的吸收功率。
3.如权利要求2所述的微波泄漏检测方法,其特征在于,所述微波泄漏检测方法包括:
检测所述负载的温度;
根据所述负载在单位时间内的温度变化、所述负载的比热容和所述负载的重量获得所述负载的吸收功率。
4.如权利要求3所述的微波泄漏检测方法,其特征在于,在根据所述入射功率之和、所述反射功率之和、所述微波设备的吸收功率获得所述微波设备的泄漏功率之前,所述微波泄漏检测方法包括:
判断所述入射功率之和是否大于入射功率阈值;
在所述入射功率之和大于所述入射功率阈值时,进入根据所述入射功率之和、所述反射功率之和、所述微波设备的吸收功率获得所述微波设备的泄漏功率的步骤。
5.如权利要求4所述的微波泄漏检测方法,其特征在于,所述微波泄漏检测方法包括:
在所述入射功率之和不大于所述入射功率阈值时,控制所述微波设备提示故障并关闭所有所述微波源。
6.如权利要求3所述的微波泄漏检测方法,其特征在于,所述微波泄漏检测方法包括:
在所述泄漏功率不大于所述泄漏功率阈值时,将所述泄漏功率大于所述泄漏功率阈值的持续时长清零并返回检测所有所述微波源的入射功率及反射功率、以及检测所述负载的温度的步骤。
7.如权利要求3所述的微波泄漏检测方法,其特征在于,所述微波泄漏检测方法包括:
在所述泄漏功率大于所述泄漏功率阈值的持续时长不大于所述预设时长时,返回检测所有所述微波源的入射功率及反射功率、以及检测所述负载的温度的步骤。
8.如权利要求1所述的微波泄漏检测方法,其特征在于,所述微波源为半导体微波源。
9.一种微波设备,其特征在于,包括至少一个微波源、控制器和功率检测模块,所述控制器连接所述微波源和所述功率检测模块,所述控制器用于启动所有所述微波源,所述功率检测模块用于检测所有所述微波源的入射功率及反射功率,所述控制器用于计算所有所述微波源的入射功率之和及反射功率之和,及用于根据所述入射功率之和、所述反射功率之和、所述微波设备的吸收功率获得所述微波设备的泄漏功率,及用于判断所述泄漏功率是否大于泄漏功率阈值,以及用于在所述泄漏功率大于所述泄漏功率阈值并且所述泄漏功率大于所述泄漏功率阈值的持续时长大于预设时长时,控制所述微波设备提示微波泄漏并关闭所有所述微波源。
10.如权利要求9所述的微波设备,其特征在于,所述微波设备包括腔体,在所述腔体内放置有负载时,所述吸收功率包括所述腔体及所述腔体内的空气的吸收功率和所述负载的吸收功率。
11.如权利要求10所述的微波设备,其特征在于,所述微波设备包括温度检测模块,所述温度检测模块用于检测所述负载的温度,所述控制器用于根据所述负载在单位时间内的温度变化、所述负载的比热容和所述负载的重量获得所述负载的吸收功率。
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