[发明专利]一种薄膜晶体管在审
申请号: | 201811270519.6 | 申请日: | 2018-10-29 |
公开(公告)号: | CN109300981A | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 肖鹏;黄俊华;袁健;刘佰全;罗东向 | 申请(专利权)人: | 佛山科学技术学院 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/786 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 龙栢强 |
地址: | 528000 广东省佛山市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 迁移率 源层 顶接触结构 接触结构 底栅 顶栅 绝缘层 超高分辨率 电学性能 高稳定性 界面接触 显示驱动 层结构 叠合 基板 漏极 源极 薄膜 | ||
1.一种薄膜晶体管,包括基板、栅极、绝缘层、有源层、源极和漏极,其特征在于,所述有源层为采用具有高稳定性和Hall迁移率的材料制得的薄膜,所述薄膜晶体管的截面包括底栅顶接触结构、底栅底接触结构、顶栅底接触结构和顶栅顶接触结构。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜的厚度为5-100nm。
3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述底栅顶接触结构的底部为基板,所述基板的上方设有栅极和绝缘层,且所述绝缘层覆盖栅极,所述绝缘层上设有有源层,所述有源层的上方设有分别与有源层的两端相连的源极和漏极。
4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述底栅底接触结构的底部为基板,所述基板的上方设有栅极和绝缘层,且所述绝缘层覆盖栅极,所述绝缘层上设有有源层,所述绝缘层的上方还分别设有与绝缘层两端相连的源极和漏极,且有源层覆盖源极和漏极。
5.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述顶栅底接触结构的底部为基板,所述基板的上方设有有源层,所述基板的上方还设有与基板两端相连的源极和漏极,且有源层覆盖源极和漏极,所述有源层的上方设有绝缘层,绝缘层上方设有栅极。
6.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述顶栅顶接触结构的底部为基板,所述基板的上方设有有源层,所述有源层的上方设有绝缘层,所述有源层的上方还分别设有与有源层的两端相连的源极和漏极,且绝缘层覆盖源极和漏极,所述绝缘层的上方设有栅极。
7.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述栅极的材料选自金属合金、金属和透明导体氧化物中的一种,厚度为10~1000nm。
8.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述源极的材料选自金属合金、金属和透明导体氧化物中的一种,厚度为10~1000nm。
9.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述漏极的材料选自金属合金、金属和透明导体氧化物中的一种,厚度为10~1000nm。
10.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述绝缘层选自高介电常数的氧化物或非晶态电介质材料,厚度为0~1000nm。
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