[发明专利]一种改进型RoIAlign区域特征聚集算法在审

专利信息
申请号: 201811270899.3 申请日: 2018-10-29
公开(公告)号: CN109685064A 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 梁燕华;武俊峰;谢子殿;李忠勤;姜艳秋;祁红岩;周裕;崔怀鹏 申请(专利权)人: 黑龙江科技大学
主分类号: G06K9/34 分类号: G06K9/34;G06K9/32
代理公司: 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人: 郭伟红
地址: 150022 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 计算效率 目标图像 区域特征 对齐 改进型 浮点运算 整数运算 源图像 算法 中心点坐标 插值计算 乘除运算 几何中心 区域信息 移位运算 硬件需求 映射过程 计算量 双线性 特征图 中心点 转换 重合 池化 减小 像素 优化
【权利要求书】:

1.一种改进型RoIAlign区域特征聚集算法,其特征在于,步骤如下:

S1采用中心点对齐方法将源图像和目标图像几何中心对齐,假设源图像尺寸m×n目标图像大小为a×b则两幅图像的宽度与高度比例分别为m/a和n/b,则目标图像中某像素点(dstX,dstY)可以通过插值比例映射回源图像中相应像素位置(srcX,srcY)改进源图像与目标图像的对齐方式,将左上角对齐改进为中心点对齐,此时计算公式为下式:

可将公式进一步变形为:

公式的后半部分可视为整个插值运算的控制因子,其取值可正可负,此时源图像与目标图像的坐标中心为坐标系原点,将源图像与目标图像的中心点坐标达到重合,由于该控制因子的存在,使得映射过程充分并且均匀的利用了源图的所有像素。

S2进行双线性插值计算,为提高计算效率和计算精度,将浮点运算转换成整数运算,计算方法为首先对目标图像坐标点取整,对小数部分按照倍率放大后取整,再对其进行向右的移位运算,达到除以放大倍率的目的,从而得到最终插值结果。

2.根据权利要求1所述的一种改进型RoIAlign区域特征聚集算法,其特征在于,在S2步骤中,对目标图像坐标点取整,对小数部分按照倍率放大后取整的方法如下:

为求得目标图像某像素点(x,y)处的像素值f(x,y),假设该点坐标为浮点数(26.15,25.66),首先对目标图像坐标点取整,对小数部分按照倍率放大后取整,如下式:

其中,New_x与New_y为目标点浮点坐标值的整数部分,Δx与Δy是浮点数小数部分倍率放大后的结果取整值,inv_x与inv_y表示(1-x)和(1-y),以上数据均利用floor()函数进行向下取整。将这些参数代入下式:

式中参数均为整数,且已知源图像在(0,0)、(0.1)、(1,0)以及(1,1)处的像素值f(0,0)、f(0,1),f(0,1)、f(1,0)以及f(1,1)均为整数,得到整数Integer,再对其进行向右的移位运算,移动22位,达到除以放大倍率4194304的目的,得到最终插值结果。

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