[发明专利]测试系统、测试方法、测试装置及存储介质

说明书

本申请实施例提供一种测试系统、测试方法、测试装置及存储介质，所述测试系统包括：测试线，所述测试线的第一端口用于与待测电子设备连接；转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接；所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第四端口接通，或者所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第五端口接通。本申请实施例提供的测试系统，无需对测试线与待测电子设备进行反复插拔，测试过程简单，耗时短，从而可以提高对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时的测试效率。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，特别涉及一种测试系统、测试方法、测试装置及存储介质。

背景技术

在诸如智能手机等电子设备的研发生产过程中，当电子设备的硬件设计和软件开发完成后，需要对电子设备进行测试，以检测电子设备是否符合设计规格的要求。

例如，电子设备既可以通过USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口实现充电功能，又可以通过USB接口与其它电子设备(例如计算机、移动硬盘等)实现数据交换功能。当电子设备通过USB接口与其它电子设备实现数据交换功能时，此时USB接口实现OTG(On The Go)接口的功能，以实现电子设备与其它电子设备之间的数据交换。因此，在电子设备的研发生产过程中，需要对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试。

当前，对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时，测试过程繁琐，测试耗时长，从而导致测试效率低。

发明内容

本申请实施例提供一种测试系统、测试方法、测试装置及存储介质，可以提高对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时的测试效率。

本申请实施例提供一种测试系统，用于测试电子设备的充电功能和OTG功能，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与待测电子设备连接；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接；其中：

所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以使得所述待测电子设备通过充电功能与所述充电设备接通，或者所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以使得所述待测电子设备通过OTG功能与所述存储设备接通。

本申请实施例还提供一种测试方法，应用于测试系统，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与待测电子设备连接；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接；

所述测试方法包括：

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以对所述待测电子设备的充电功能进行测试；

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以对所述待测电子设备的OTG功能进行测试。

本申请实施例还提供一种测试装置，应用于测试系统，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与待测电子设备连接；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接；

所述测试装置包括控制模块，所述控制模块用于：

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以对所述待测电子设备的充电功能进行测试；