[发明专利]一种隔离式精准过零检测电路在审
申请号: | 201811271253.7 | 申请日: | 2018-10-29 |
公开(公告)号: | CN109459607A | 公开(公告)日: | 2019-03-12 |
发明(设计)人: | 谢明;冯骥;郑威;崔傲凡 | 申请(专利权)人: | 上海良治电器技术有限公司 |
主分类号: | G01R19/175 | 分类号: | G01R19/175 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 黄佳丽 |
地址: | 201801 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测电路 过零检测电路 信号生成电路 过零检测 隔离式 控制隔离电路 隔离电路 检测误差 交流检测 交流信号 信号传输 交流源 光耦 电路 隔离 传输 | ||
1.一种隔离式精准过零检测电路,其特征在于:包括,波形正负检测电路、隔离电路和信号生成电路;
其中,波形正负检测补偿电路包括限流电阻R2、二极管D1和检测补偿电容C1;
隔离电路包括:隔离光耦U2、场效应晶体管U1、限流电阻R3和限流电阻R4;
限流电阻R2的一端与输入信号INPUT的一端连接,另一端与二极管D1的正极连接;检测补偿电容C1的一端二极管D1的负极连接,另一端与输入信号INPUT的另一端连接;检测补偿电容C1的一端还与隔离电路的隔离光耦U2的一个输入端连接;
隔离光耦U2的一个输入端与检测补偿电容C1的一端连接,另一个输入端与限流电阻R3的一端连接;限流电阻R3的另一端与场效应晶体管U1的漏极连接;场效应晶体管U1的源极与检测补偿电容C1的另一端、输入信号INPUT的另一端连接;限流电阻R2的一端与场效应晶体管U1的栅极连接,另一端与输入信号INPUT的一端连接;
隔离光耦U2的一个输出端与信号生成电路连接,另一个输出端与信号生成电路连接,还通过限流电阻R4之后接地。
2.如权利要求1所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:
波形正负检测补偿电路还包括稳压二极管D2;稳压二极管D2并联在检测补偿电容C1的两端。
3.如权利要求2所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:
稳压二极管D2的负极与二极管D1的负极连接,正极与输入信号INPUT的另一端连接。
4.如权利要求1所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:
场效应晶体管U1为N型场效应晶体管。
5.如权利要求1所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:
隔离电路还包括限流电阻R1和稳压二极管D3;
稳压二极管D3并联在N型场效应晶体管U1的栅极和源极两端;限流电阻R1的一端与场效应晶体管U1的栅极、稳压二极管D3的负极连接,另一端与输入信号INPUT的一端连接。
6.如权利要求5所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:
稳压二极管D3的正极与N型场效应晶体管U1的源极连接,负极与N型场效应晶体管U1的栅极连接。
7.如权利要求1所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:
信号生成电路包括:与非门芯片U3、非门芯片U4、与非门芯片U5、维持电容C2;
与非门芯片U3的一个输入端门芯片U4的输出端口连接,另一个输入端与隔离光耦U2的另一个输出端连接;
与非门芯片U4的一个输入端与与非门芯片U3的输出端相连;
维持电容C2的一端与与非门芯片U3的输出端连接,另一端与与非门芯片U4的另一个输入端连接;
与非门芯片U5的两个输入端均与与非门芯片U4的输出端连接,输出端与信号输出端OUTPUT连接。
8.如权利要求7所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:
信号生成电路还包括:上拉电阻R5、下拉电阻R6、上拉电阻R7、上拉电阻R8和辅助电源VCC;
隔离光耦U2的一个输出端与信号生成电路的辅助电源VCC连接;
与非门芯片U3的输出端通过上拉电阻R5与辅助电源VCC连接;与非门芯片U4的输出端通过上拉电阻R7与辅助电源VCC连接;与非门芯片U5的输出端通过上拉电阻R8与辅助电源VCC连接;与非门芯片U4的另一个输入端通过下拉电阻R6接地。
9.如权利要求1至8中任意一项所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:输入信号INPUT为110~400V,50/60HZ的交流信号。
10.如权利要求1至8中任意一项所述的隔离式精准过零检测电路,其特征在于:
输入信号INPUT的另一端、检测补偿电容C1的另一端、场效应晶体管U1的源极接地。
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