[发明专利]一种具有反波导层结构的半导体激光器及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201811277048.1 申请日: 2018-10-30
公开(公告)号: CN109193344A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 李弋;周坤;杜维川;康俊杰;高松信;武德勇;胡耀;张亮 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
主分类号: H01S5/34 分类号: H01S5/34;H01S5/20
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 詹永斌
地址: 621000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 反波导 外延层 半导体激光器 震荡区 衬底 前腔 后腔面 衬底侧面 高阶模式 模式控制 波导层 层结构 凸出的 制造
【说明书】:

发明提供了一种具有反波导层的半导体激光器及其制造方法,该方案包括有衬底、外延层、侧相反波导层、前腔面和后腔面;外延层设置在衬底顶面上;前腔面设置在衬底的一侧面上;所述后腔面设置在前腔面对侧的衬底侧面上;外延层上设置有凸出的条形震荡区;条形震荡区的两侧中,至少有一侧设置有反波导层;反波导层设置在外延层上。该方案可以比现有模式控制技术在震荡区两侧更好的抑制高阶模式,从而改善光束质量,提高半导体激光器的亮度。

技术领域

本发明涉及的是半导体激光器设计制造领域,尤其是一种具有反波导层的半导体激光器及其制造方法。

背景技术

半导体激光器具有电光效率高、体积小、可靠性高等优点,在泵浦固体激光、工业加工、医疗、空间通信等领域有着重要的应用。随着泵浦高亮度光纤激光、光谱合成等新应用场景的出现,对具有高功率、高光束质量特性的新型高亮度半导体激光器,提出了更高的要求。对于最常用的宽发光区半导体激光器,提高亮度的难点在于:虽然功率较高(10~25W),但受高阶模式、丝状发光效应等因素影响,慢轴方向(附图1 中x轴方向)光束质量较差,慢轴发散角通常较大(7°~12°),限制了半导体激光器的亮度提高。从影响半导体激光器光束质量的因素分析,高阶模式数越少,光束质量越好,因此模式控制技术是高亮度半导体激光研究领域的热点。常见的半导体激光器模式控制技术包括以下几类:

1、二维电极结构。该方法是在半导体激光芯片P面制作二维电极结构来控制电流注入。2016年,中国科学院王涛等人采用二维电流注入结构控制侧向发散角,获得了36%的光束质量提高。但这种方法需要刻蚀制作周期性的3微米二维电极结构,工艺难度较大。

2、H+离子注入技术。该方法是用在半导体激光芯片震荡区两侧注入H+离子,起到控制侧向载流子积累的作用。2015年,美国通快光电公司采用H+离子注入方式抑制侧向载流子积累,获得慢轴发散角6.9°,从而将侧向线功率密度提高到3.5 W/mm×mrad。但这种方法需要使用较昂贵的离子注入设备,加工成本较高。

3、外腔反馈式激光器。该技术原理是通过外腔反馈控制激光器横向模式,把半导体激光器作为增益介质,将有源区作为空间滤波器滤除腔内高阶振荡模式,达到高亮度激光输出的目的。2011年,德国FBH研究所AI Bawamia等人采用该技术方案目前可实现132MW/(cm2sr)的高亮度激光输出。但这种方法需要采用加入复杂的外腔光栅反馈,增大了激光器体积,也降低了激光器的工作可靠性。

除上述技术之外,还有一些其它的提高半导体激光亮度方法,包括混合非对称外延结构,锥形激光器技术等。虽然上述方法能在一定程度上提高光束质量和激光亮度,但这些方法都不同程度的有成本高、实施复杂的缺陷。

发明内容

本发明的目的,就是针对现有技术所存在的不足,而提供一种具有反波导层的半导体激光器及其制造方法的技术方案,该方案可以比现有模式控制技术在震荡区两侧更好的抑制高阶模式,从而改善光束质量,提高半导体激光器的亮度。

本方案是通过如下技术措施来实现的:

一种具有反波导层的半导体激光器,包括有衬底、外延层、侧相反波导层、前腔面和后腔面;外延层设置在衬底顶面上;前腔面设置在衬底的一侧面上;所述后腔面设置在前腔面对侧的衬底侧面上;外延层上设置有凸出的条形震荡区;条形震荡区的两侧中,至少有一侧设置有反波导层;反波导层设置在外延层上。

作为本方案的优选:外延层包括有依次从下至上排布的下限制层、下波导层、量子阱层、上波导层、上限制层、上金属化层;所述上波导层、上限制层、上金属化层组成条形震荡区。

作为本方案的优选:反波导层设置在上波导层上,且位于条形震荡区的两侧。

作为本方案的优选:反波导层上设置有绝缘膜层。

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