[发明专利]Mura缺陷补偿设备及方法

权利要求书

1.一种Mura缺陷补偿设备，其特征在于，包括：

一机台，其上设有旋转驱动装置；

一转盘，其设于所述机台上，并与所述旋转驱动装置连接，所述机台沿所述转盘的周向依次设置有取放工位、IC消除工位、Mura测试工位和烧录工位，所述转盘上设有至少一测试载具、至少一信号连接器及至少一PG信号发生器，每一所述测试载具上放置的待测AMOLED显示面板的柔性电路板通过一个所述信号连接器与一个所述PG信号发生器电性连接；

至少一Mura测试组件，其设于所述转盘的上方，并处于所述Mura测试工位中，其用于拍摄转至其下方的所述测试载具上放置的待测AMOLED显示面板的发光图像；以及

一控制器，其分别与每一所述PG信号发生器及每一所述Mura测试组件电性连接，以根据所述发光图像计算出补偿数据，并利用对应的所述PG信号发生器将所述补偿数据烧录至对应的所述待测AMOLED的集成电路当中。

2.根据权利要求1所述的Mura缺陷补偿设备，其特征在于，所述Mura测试组件包括CCD相机和相机光源，所述相机光源位于所述CCD相机和所述转盘之间。

3.根据权利要求2所述的Mura缺陷补偿设备，其特征在于，当所述测试载具转至所述CCD相机下方时，所述CCD相机镜头的中轴线与所述测试载具上放置的待测AMOLED显示面板的中心点垂直。

4.根据权利要求1所述的Mura缺陷补偿设备，其特征在于，所述转盘上圆周阵列排布有四个载具盘，每一所述载具盘上均设有一排所述测试载具，当任一所述载具盘转入到任一工位当中的指定位置上时，其余三个所述载具盘分别位于其它三个工位的指定位置上。

5.根据权利要求4所述的Mura缺陷补偿设备，其特征在于，每一所述测试载具设于一所述PG信号发生器的顶部，所述PG信号发生器设于对应的所述载具盘上，每一所述测试载具的一侧分别设有一所述信号连接器，所述信号连接器设于对应的所述PG信号发生器的顶部。

6.根据权利要求4所述的Mura缺陷补偿设备，其特征在于，所述Mura缺陷补偿设备包括一排所述Mura测试组件，当任一所述载具盘转入至所述Mura测试工位当中的指定位置上时，所述载具盘上的每一所述测试载具的正上方设有一个所述Mura测试组件。

7.根据权利要求1所述的Mura缺陷补偿设备，其特征在于，所述机台围绕所述转盘设置有一挡光外壳，所述挡光外壳在所述取放工位处设置有开口，相邻两个工位之间均设置有一隔离遮光板。

8.根据权利要求1所述的Mura缺陷补偿设备，其特征在于，所述Mura测试工位的一侧设有侧光源，所述侧光源与所述控制器电性连接。

9.一种Mura缺陷补偿方法，其特征在于，应用于权利要求1至8任一项所述的Mura缺陷补偿设备当中，所述Mura缺陷补偿方法包括：

通过旋转驱动装置驱动转盘旋转，以将放置有待测AMOLED显示面板的测试载具从取放工位当中依次转入到IC消除工位、Mura测试工位和烧录工位当中的指定位置上；

当所述测试载具转至所述IC消除工位中的指定位置时，通过PG信号发生器清除所述待测AMOLED显示面板的集成电路内的原始Mura数据；

当所述测试载具转至所述Mura测试工位中的指定位置时，通过所述PG信号发生器将所述待测AMOLED显示面板点亮，并通过Mura测试组件获取所述待测AMOLED显示面板的发光图像，并根据所述发光图像计算出补偿数据；

当所述测试载具转至所述烧录工位中的指定位置时，通过所述PG信号发生器将所述补偿数据烧录至所述待测AMOLED显示面板的集成电路当中。

10.根据权利要求9所述的Mura缺陷补偿方法，其特征在于，所述Mura测试工位的一侧设有侧光源，在所述通过Mura测试组件获取所述待测AMOLED显示面板的发光图像的步骤之后，还包括：

关闭所述PG信号发生器，并开启所述侧光源，并通过所述Mura测试组件获取所述待测AMOLED显示面板表面的灰尘颗粒图像，并根据所述灰尘颗粒图像对所述发光图像进行降噪。