[发明专利]一种统一存储阵列智能功耗测试系统在审
| 申请号： | 201811279318.2 | 申请日： | 2018-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN109387792A | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 华要宇 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40;G01R31/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 统一存储 功耗测试系统 人机交互界面 供电模块 智能测试系统 供电电流 智能 测试参数设定 测试接口单元 备份电池 测试过程 测试记录 测试接口 测试效率 存储阵列 功耗测试 阶段功率 统计查询 转接 触摸屏 功耗 电源 机型 测试 分类 | ||
1.一种统一存储阵列智能功耗测试系统，用于对统一存储阵列进行功耗测试，其特征在于，包括：
测试接口单元，用于连接供电模块、智能测试系统和统一存储阵列；
智能测试系统，用于测试统一存储阵列各阶段功率及供电电流；
供电模块，用于提供电源；
人机交互界面，用于显示测试过程及测试结果，人机交互界面包括触摸屏LCD。
2.根据权利要求1所述的统一存储阵列智能功耗测试系统，其特征在于，还包括：PC通讯接口，用于人机交互界面与智能测试系统进行通讯。
3.根据权利要求1所述的统一存储阵列智能功耗测试系统，其特征在于，智能测试系统将测试结果进行分类。
4.根据权利要求1所述的统一存储阵列智能功耗测试系统，其特征在于，人机交互界面还用于根据测试机型进行测试参数设定和存储测试结果设定。
5.根据权利要求1所述的统一存储阵列智能功耗测试系统，其特征在于，智能测试系统包括：
采样信号处理线路，包括信号处理电路和钳位电路，其中，信号处理电路用于把采样信号处理成单片机AD采样匹配信号，钳位电路用于信号异常是保护单片机采样I/O口；
中央处理器系统，包括单片机、时钟电路和复位电路；
通讯接口保护电路，用于异常情况下保护单片机通讯口、LCD屏通讯接口。
6.根据权利要求5所述的统一存储阵列智能功耗测试系统，其特征在于，中央处理器系统中包含统一存储阵列功耗测试参数智能设定算法、智能采样算法、测试结果智能处理算法。
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