[发明专利]测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度的方法

说明书

本发明一种测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度的方法，该方法首先切取待测量的无取向硅钢，标明轧向，对无取向硅钢进行磨制和抛光处理；然后抛光好的无取向硅钢放入X射线衍射仪里测量待测量的正方形无取向硅钢的三个不完全极图，然后根据相同磁化方向〈uvw〉计算对应同一类磁化方向〈uvw〉的晶粒在待测量的无取向硅钢中所占的百分比W_〈uvw〉；将不同类型的晶粒的磁感应强度B_〈uvw〉与中计算出W_〈uvw〉相乘，即B_〈uvw〉W_〈uvw〉，将不同类型的晶粒的B_〈uvw〉W_〈uvw〉求和，即得到待测量的无取向硅钢的磁感应强度B。本发明结果准确可靠，该方法具有实用性，弥补了传统方法的不足。

技术领域

本发明涉及测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度，具体涉及一种测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度的方法。

背景技术

高磁感应强度的无取向硅钢是制造电机铁芯的重要的磁性材料，如何开发出性能更好的无取向硅钢是摆在科研工作者面前的重大课题。在科研生产中，需要研究无取向硅钢的磁感以及它与织构信息的相互关系，因此通过无取向硅钢(特别是小晶粒、小尺寸的无取向硅钢)的织构信息来测量磁感应强度具有十分重要的理论意义和实际意义。

传统的测量无取向硅钢磁感的方法一般需要尺寸较大的样品(标准尺寸为30х300毫米)，因此传统的技术不能测量小尺寸的样品。本发明与传统方法相比，需要的样品少(尺寸约20х20毫米)，速度快，属无损检测，所以对于小样品而言，非常适合采用本方法。

发明内容

本发明的目的在于克服现有测量技术的不足，并考虑不同晶粒取向(织构)及其所占比例，提供了一种测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度的方法，该方法测量结果更精确，需要的样品少，速度快，属无损检测，本方法特别适合测量尺寸约20х20毫米的样品。

为实现上述目的，本发明所设计一种测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度的方法，包括以下步骤：

1)切取待测量的无取向硅钢，标明轧向，对无取向硅钢进行磨制和抛光处理；

2)将抛光好的无取向硅钢放入X射线衍射仪里测量待测量的正方形无取向硅钢的三个不完全极图，符号代码分别为J110、J200和J211；(J110、J200和J211分别是无取向硅钢中体心立方铁的三个晶面的布拉格衍射峰，分别称为110晶面、200晶面和211晶面)；

3)利用X射线衍射仪内自带的软件对三个不完全极图进行分析；计算得到待测量的无取向硅钢的三维取向分布函数ODF，并通过三维取向分布函数ODF分析，得到待测量的无取向硅钢内不同类型晶粒的磁化方向晶粒的磁化方向〈uvw〉和晶面{hkl}，根据磁化方向〈uvw〉和晶面{hkl}确定待测量的无取向硅钢内各晶粒的类型{hkl}〈uvw〉并确定待测量的无取向硅钢内不同类型晶粒的相同磁化方向，然后根据相同磁化方向〈uvw〉计算对应同一类磁化方向〈uvw〉的晶粒在待测量的无取向硅钢中所占的百分比W_〈uvw〉；

其中，〈uvw〉代表晶粒类型磁化方向，uvw为晶向指数，编号为001、....111、....521、...，{hkl}代表晶面，且hkl为晶面指数，编号为001、....111、....521、....；(两组数据hkl和UVW才能完整表示一种晶粒类型即{hkl}〈uvw〉，但当〈uvw〉相同，{hkl}不同时，这是表示不同的晶粒类型，只要〈uvw〉相同(无论{hkl}是否相同)，晶粒的磁化方向相同，因此该晶粒类型的磁感应强度B_〈uvw〉相同。通过ODF计算软件，可以得到不同种类的晶粒类型{hkl}〈uvw〉，但在计算晶粒类型的磁感应强度B_〈uvw〉时，则只需要〈uvw〉的数据而不需要{hkl}的数据。)

4)计算不同磁化方向〈uvw〉的晶粒的磁感应强度B_〈uvw〉