[发明专利]一种适用于专用ASIC的CRC校验方法在审
| 申请号： | 201811282117.8 | 申请日： | 2018-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN109656745A | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | 霍兴华;樊镕;吴璇;高金超;韩华锦;贾明建 | 申请（专利权）人： | 天津七所精密机电技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;H04L1/00 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王雨晴 |
| 地址： | 300131 天*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 位移位寄存器 生成多项式 移位寄存器 关系表达式 按位取反 变形规则 技术特点 同步通信 校验结果 校验 异或门 反转 构建 算法 进口 兼容 输出 通信 | ||
【权利要求书】：
1.一种适用于专用ASIC的CRC校验方法，其特征在于：包括以下具体步骤：
步骤1、构建十六位移位寄存器，模2除用异或门实现，从而生成多项式反转，即将生成多项式的简记式16’h1024进行反转为16’h8048；
步骤2、设定十六位移位寄存器校验初始值为全0，计算得到当前周期移位寄存器的状态与当前输入和移位寄存器前一状态的关系表达式；
步骤3、将校验结果进行按位取反输出。
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