[发明专利]一种图像传感器的静态坏点校正装置及其校正方法

说明书

本发明公开了一种图像传感器的静态坏点校正方法，包括如下步骤：S01：将图像传感器对应的静态坏点表保存在存储单元中；S02：将待处理图像数据输入坏点识别单元中，坏点簇提取单元从存储单元中提取影响上述输入数据的坏点簇；S03：位置识别单元获得输入数据中的坏点位置信息；S04：坏点识别单元为输入数据中相同位置上的像素做上坏点标记，并将标记后的输入数据传输至校正单元；S05：所述校正单元对标记了坏点的当前输入数据进行校正输出。本发明提供的一种图像传感器的静态坏点校正装置及其校正方法，可以减少对缓存的读写次数，降低数据与静态坏点表的比较次数，从而提高静态坏点校正算法的效率，并且能够对binning模式提供支持。

技术领域

本发明涉及芯片硬件的算法设计，具体属于一种图像传感器的静态坏点校正装置及其校正方法。

背景技术

通常情况下，如果芯片中的图像传感器存在工艺上的缺陷，或光信号进行转化的过程中出现错误，会造成图像上有些像素的信息有误，导致图像中的像素值不准确，这些有缺陷的像素即为图像坏点。

来自不同传感器制造商的工艺可能存在差别，不同的厂商会给出每个传感器的静态坏点表。一般待处理的图像数据每次会以行数据的形式传输，通常的静态坏点校正算法通过直接比对静态坏点表中存放的坏点位置信息与传输过来的行数据的位置信息来判断是否需要进行坏点校正，若传输过来的行数据中存在静态坏点，则进行静态坏点的校正处理。

通常采用的静态坏点校正算法中，每次传输过来的输入数据会直接送入缓存中，然后会从缓存中取出待判定行数据以及其他与其相关联的数据，随后与存储单元中保存的静态坏点表进行比对，判断数据中是否存在坏点。如果存在坏点，则对该坏点进行校正处理并使用校正后的数据替换掉坏点位置处的数据后直接输出。

静态坏点校正逻辑电路的设计可以有很多变化，但是其本质就是将数据与传感器制造商提供的静态坏点表做对比，判定出数据中的坏点位置后进行校正处理。但是如果简单地将每一个点都与静态坏点表做对比来判断其是否为坏点，这会产生大量的比较操作以及读写操作。与此同时，静态坏点校正逻辑电路也应当响应ISP设计中对binning模式的需求，为binning模式提供支持，这一点在传统的静态坏点校正方式中并不能实现。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种图像传感器的静态坏点校正装置及其校正方法，可以减少对缓存的读写次数，降低数据与静态坏点表的比较次数，从而提高静态坏点校正算法的效率，并且能够对binning模式提供支持。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：一种图像传感器的静态坏点校正方法，包括如下步骤：

S01：将图像传感器对应的静态坏点表保存在存储单元中；

S02：将待处理图像数据输入坏点识别单元中，坏点簇提取单元根据输入数据的位置信息，从存储单元中提取影响上述输入数据的坏点簇；其中，所述坏点簇包括A个像素，且A个像素中包含1至A个坏点；影响输入数据的坏点簇指的是静态坏点表中所有与当前输入数据位置发生重合的坏点簇，其中，A为大于1的整数；

S03：位置识别单元从坏点簇提取单元中获取影响当前输入数据的所有坏点簇中坏点的位置信息，同时再根据当前输入数据传递过来的位置信息，获得输入数据中的坏点位置信息；

S04：坏点识别单元利用从位置识别单元中传递过来的输入数据中的坏点位置信息，为输入数据中相同位置上的像素做上坏点标记，并将标记后的输入数据传输至校正单元；

S05：所述校正单元对标记了坏点的当前输入数据进行校正输出。

进一步地，所述坏点簇包括3行3列的像素，且所述坏点簇的第三列只包括中间的像素，所述坏点簇中的坏点个数为1至7个。