[发明专利]一种对比试块及校准方法

权利要求书

1.一种对比试块的校准方法，其特征在于：对比试块表面为圆弧状的检测面，底部为用以安置的平面，右侧设有反射面，左侧设有防干扰区域，防干扰区域包括一个倾斜面和一个差异反射区；反射面由四段不同半径的圆弧面拼接而成；对比试块的校准方法如下：a、修磨探头至规定的曲率，将探头底部楔块进行修磨，使得探头底部与焊缝之间不会出现不利于超声检测的间隙；b、连接探头并确定探头的聚焦深度或者声程，连接超声波检测仪器及探头，将仪器设置为双收双发的工作状态，探头设置于检测面的左侧圆弧面第一检测位置上，左右移动探头找到最高反射体的位置，测量出最高波幅处声程；c、记录探头零偏和前沿数据，将探头放置于检测面的右侧圆弧面上的校准位置，左右移动探头，使声束正面扫向反射面，通过修磨后探头聚焦声程左右两个两圆弧面的自动声速校正，确定该探头在对比试块中的声速及探头零偏及前沿数据，然后重复多次，并进行记录；d、测量计算修磨后的探头实际折射角，对于折射角度50--72度的探头，将探头置于检测面的左侧圆弧面的10mm长横孔对应的检测位置处，左右移动探头，得到深度10mm长横孔反射最高波，计算得出修磨后探头的实际折射角；对于折射角度45度的探头，将探头置于检测面的35mm长横孔对应的检测位置上，左右移动探头，得到深度35mm长横孔反射最高波，计算得出修磨后探头的实际折射角；e、将零偏、前沿、声速校准后探头置于检测面的左侧圆弧面上，左右移动探头，得到各长横孔反射最高波幅，将各最高波幅峰值点连线得到长横孔定量灵敏度曲线。

2.根据权利要求1所述的一种对比试块的校准方法，其特征在于：对比试块呈顶部大、底部小的结构，检测面上设有探头移动检测区域和与探头移动检测区域配合的刻度线。

3.根据权利要求1所述的一种对比试块的校准方法，其特征在于：所述倾斜面的倾斜角度为30--75度，差异反射区由一组长横孔组成，长横孔分成4--8组，相邻两组长横孔之间的距离为8--12mm，每个长横孔的大小为1.5--4.5mm。

4.根据权利要求1所述的一种对比试块的校准方法，其特征在于：反射面由上至下，由四段半径从小至大的圆弧面拼接而成，四段半径的比值为1：2:3--4:4.5--5.5。

5.根据权利要求1所述的一种对比试块的校准方法，其特征在于：校准方法如下：对比试块表面为圆弧状的检测面，底部为用以安置的平面，右侧设有反射面，左侧设有防干扰区域，防干扰区域包括一个倾斜面和一个差异反射区；反射面由四段不同半径的圆弧面拼接而成；对比试块呈顶部大、底部小的结构，检测面上设有探头移动检测区域和与探头移动检测区域配合的刻度线。

6.根据权利要求5所述的一种对比试块的校准方法，其特征在于：校准方法如下：倾斜面的倾斜角度为30--75度，差异反射区由一组长横孔组成，长横孔分成4--8组，相邻两组长横孔之间的距离为8--12mm，每个长横孔的大小为1.5--4.5mm；反射面由上至下，由四段半径从小至大的圆弧面拼接而成，四段半径的比值为1：2:3--4:4.5--5.5。