[发明专利]一种基于固态自旋的磁场测量方法及装置和磁场测量系统

权利要求书

1.一种基于固态自旋的磁场测量方法，其特征在于，所述磁场测量方法包括：

对待测磁场进行调制处理为调制磁场，所述调制处理包括：对所述待测磁场进行聚集以放大所述待测磁场的磁感应强度，将所述待测磁场调制为预设频段，其中，将所述待测磁场调制为预设频段，包括：通过控制用于调制所述待测磁场的调制结构的磁学性质，以将所述待测磁场调制为所述预设频段；或，将所述待测磁场调制为预设频段，其中，将所述待测磁场调制为预设频段，包括：通过控制用于调制所述待测磁场的调制结构的磁学性质，以将所述待测磁场调制为所述预设频段；

采用基于固态自旋的磁传感器测量所述调制磁场。

2.根据权利要求1所述的基于固态自旋的磁场测量方法，其特征在于，通过控制施加至所述调制结构上的电压，而控制所述调制结构的相对磁导率，以将所述待测磁场调制为所述预设频段。

3.一种基于固态自旋的磁场测量装置，其特征在于，所述磁场测量装置包括：

调制器件，所述调制器件用于对待测磁场进行调制处理为调制磁场，所述调制处理包括：对所述待测磁场进行聚集以放大所述待测磁场的磁感应强度，将所述待测磁场调制为预设频段，其中，将所述待测磁场调制为预设频段，包括：通过控制用于调制所述待测磁场的调制结构的磁学性质，以将所述待测磁场调制为所述预设频段；或，将所述待测磁场调制为预设频段，其中，将所述待测磁场调制为预设频段，包括：通过控制用于调制所述待测磁场的调制结构的磁学性质，以将所述待测磁场调制为所述预设频段

以及，基于固态自旋的磁传感器，所述基于固态自旋的磁传感器用于测量所述调制磁场。

4.根据权利要求3所述的基于固态自旋的磁场测量装置，其特征在于，所述调制器件包括：

磁通聚集单元，所述磁通聚集单元用于对所述待测磁场进行聚集，以放大所述待测磁场的磁感应强度；

以及，设置于所述磁通聚集单元的输出侧的磁场调制单元，所述磁场调制单元用于将所述待测磁场调制为预设频段。

5.根据权利要求3所述的基于固态自旋的磁场测量装置，其特征在于，所述调制器件包括：

磁场调制单元，所述磁场调制单元用于将所述待测磁场调制为预设频段；

以及，设置于所述磁场调制单元的输出侧的磁通聚集单元，所述磁通聚集单元用于对所述待测磁场进行聚集，以放大所述待测磁场的磁感应强度。

6.根据权利要求3所述的基于固态自旋的磁场测量装置，其特征在于，通过控制施加至所述调制结构上的电压，而控制所述调制结构的相对磁导率，以将所述待测磁场调制为所述预设频段。

7.根据权利要求4或5所述的基于固态自旋的磁场测量装置，其特征在于，所述磁通聚集单元的材质为铁、钴、镍中一种金属或含有其中至少一种的合金。

8.一种磁场测量系统，其特征在于，所述磁场测量系统包括权利要求3～7任意一项所述的基于固态自旋的磁场测量装置。