[发明专利]六氟化硫在不同过热性故障温度下分解特性测试方法

说明书

本发明公开了一种六氟化硫在不同过热性故障温度下分解特性测试方法，它包括：连接试验系统并检查系统中密闭气室的气密性；进行密闭气室的清洗，将分解密闭气室抽真空后充入SF6新气，然后再将其抽真空，重复此过程3次；设定所需的模拟故障温度值并进行试验；从采气口采取SF6分解组分样气，对样品组分进行定量分析。本发明能够在不同温度下检测六氟化硫分解产物的特性，较为全面的检测SF₆分解组分，为全面、系统的研究SF₆过热分解现象奠定了实验基础，并且可以据此来构造相关组分特征比值，用于表征过热性故障的严重程度及其发展趋势。

技术领域

本发明涉及六氟化硫分解测试技术领域，特别是一种六氟化硫在不同过热性故障温度下分解特性测试方法。

背景技术

目前，针对SF6气体绝缘装备中的POF还没有一套行之有效的检测与诊断方法。通常做法是在离线例行检修时，通过测量设备整个回路的接触电阻来对设备的回路整体连接状况做诊断，显然该方法无法及时发现接触不良的问题。而红外间接测温法，由于SF6气体对红外光能的强吸收性以及SF6气体绝缘装备内部复杂的结构往往导致很难准确获取故障点处的真实温度。加之，SF6气体绝缘设备的全封闭性和外界复杂多变环境因素的影响，也限制了已有红外测温装置的在线应用。

近年来，利用SF6在PD下发生分解生成各种特征组分及其变化规律来诊断设备内部故障已成为本行业关注的热点。基于上述问题，提出一种六氟化硫在不同过热性故障温度下分解特性的测试方法。

发明内容

有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明的目的就是提供一种六氟化硫在不同过热性故障温度下分解特性测试方法，能够在不同温度下检测六氟化硫分解产物的特性。

本发明的目的是通过这样的技术方案实现的，一种六氟化硫在不同过热性故障温度下分解特性测试方法，它包括有：

S1：连接试验系统并检查系统中密闭气室的气密性；

S2：进行密闭气室的清洗，将分解密闭气室抽真空后充入SF6新气，然后再将其抽真空，重复此过程3次；

S3：设定所需的模拟故障温度值并进行试验；

S4：从采气口采取SF6分解组分样气，对样品组分进行定量分析。

进一步，所述步骤S1中检查密闭气室的气密性具体包括有：

S11：连接试验系统各功能部件；

S12：用真空泵对分解密闭气室抽真空，当气室内的真空度为0.005MPa时关闭真空泵；

S13：静置10～12小时；

S14：判断静置后的真空压力表示数是否保持在0.005～0.006MPa；若是，则表明过热分解密闭气室的密闭性能完好；反之，则表明过热分解密闭气室的密闭性能不完好。

进一步，由于过热密闭气室在试验过程中不但要承受正压，还要承受负压的作用，因此，

a)当密闭气室承受内压力作用时，过热密闭气室壁厚S_i应满足：

式中，S_i为过热密闭气室的壁厚；P为极限许用压强；D为密闭气室的腔体直径；C为附加厚度，C取0.005～0.01m；σ为材料的许用应力，其计算式为：

式中，σ_b代表材料标准抗拉强度下限值；σ_s代表材料标准常温屈服点；n_b代表抗拉强度的安全系数；n_s表示屈服点的安全系数；

b)当密闭气室承受外压力时，密闭气室的壁厚S₀应满足：