[发明专利]鳍式场效晶体管(FinFET)装置结构在审

专利信息
申请号: 201811290156.2 申请日: 2018-10-31
公开(公告)号: CN109801969A 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 张中怀;王朝勋;赵高毅;王美匀 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L23/528;H01L21/768;H01L21/336
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳;李琛
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 鳍式场效晶体管 装置结构 源极/漏极 隔离层 阻障层 导电插塞 栅极接触 第二导电层 第一导电层 接触结构 栅极结构 鳍结构
【权利要求书】:

1.一种鳍式场效晶体管装置结构,包括:

一栅极结构,形成在一鳍结构上;

一源极/漏极接触结构,形成在该鳍结构上;

一源极/漏极导电插塞,形成在该源极/漏极接触结构上,其中该源极/漏极导电插塞包括一第一阻障层和一第一导电层;

一栅极接触结构,形成在该栅极结构上,其中该栅极接触结构包括一第二阻障层和一第二导电层;

一第一隔离层,围绕该源极/漏极导电插塞,其中该第一阻障层在该第一隔离层和该第一导电层之间;以及

一第二隔离层,围绕该栅极接触结构,其中该第二阻障层在该第二隔离层和该第二导电层之间。

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