[发明专利]回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置

说明书

本发明实施例提供了一种回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置，所述方法包括：利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，校准装置的上端面为圆形，校准装置垂直安装于回转台，回转台的中心设置回转轴，回转台在回转轴的驱动下进行旋转，工件测头安装于机床的主轴中心，工件测头的长度方向平行于回转台的上表面；通过测量操作获取校准装置上端面的圆心在机床坐标系中的坐标；通过获取的校准装置上端面的圆心的坐标，确定回转轴的中心位置。解决了现有技术中回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题。

技术领域

本发明涉及数控机床等智能设备技术领域，具体而言，涉及一种回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置。

背景技术

传统测量机床回转轴中心位置，往往需要花费较长时间，并且存在大量人工误差，需多次校准后方能找出目标位置，费时费力，并且需要通过加工工件才能找出实际位置。

针对相关技术中，回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题，尚未有合理的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置，以至少解决相关技术中回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种回转轴中心位置的确定方法，包括：利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，所述校准装置的上端面为圆形，所述校准装置垂直安装于回转台，所述回转台的中心设置回转轴，所述回转台在所述回转轴的驱动下进行旋转，所述工件测头安装于机床的主轴中心，所述工件测头的长度方向平行于所述回转台的上表面；通过所述测量操作获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标；通过获取的所述校准装置上端面的圆心的坐标，确定所述回转轴的中心位置。

优选地，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量之前，所述方法还包括：将所述校准装置垂直安装于所述回转台；通过千分表校正所述校准装置的垂直度。

优选地，通过所述测量操作获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标包括：将所述回转台旋转至0度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；将所述回转台旋转至180度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；将所述回转台旋转至90度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

优选地，通过所述校准装置上端面的圆心的坐标确定所述回转轴的中心位置包括：确定所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离。

优选地，通过所述校准装置上端面的圆心的坐标确定所述回转轴的中心位置还包括：确定所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离通过以下公式获得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，d表示所述工件测头的长度，R表示所述回转轴的半径。

根据本发明的另一个实施例，还提供了一种回转轴中心位置的确定设备，包括工件测头和校准装置，所述校准装置的上端面为圆形，所述校准装置垂直安装于回转台，所述回转台的中心设置回转轴，所述回转台在所述回转轴的驱动下进行旋转，所述工件测头安装于机床的主轴中心，所述工件测头的长度方向平行于所述回转台的上表面，其中，所述工件测头用于对校准装置的上端面进行测量，使得可以获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标，并通过获取的所述校准装置上端面的圆心的坐标，确定所述回转轴的中心位置。