[发明专利]旁瓣相消中展宽零陷的方法

权利要求书

1.一种旁瓣相消中展宽零陷的方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、在旁瓣相消阶段中分别获得雷达接收的N个主阵列训练样本x_main(n)和辅助阵列训练样本x_aux(n)；

S2、根据雷达工作参数及实际探测情况，确定零陷需要展宽的宽度Δ；

S3、根据零陷需要展宽的宽度Δ，确定主通道训练样本x_main(n)需要的N个L×1维扰动向量E_main(n)和辅助通道训练样本x_aux(n)需要的N个M×1维扰动向量E_aux(n)；

S4、利用扰动向量E_main(n)和E_aux(n)分别对主通道训练样本x_main(n)和辅助通道训练样本x_aux(n)进行Hadamard积，得到扰动后的主通道训练样本和辅助通道训练样本

S5、根据系统预设的主通道波束形成权值W_CBF，对扰动后的主通道训练样本进行波束形成，得到主通道期望输出y_main(n)；

S6、使用扰动后的辅助通道训练样本和主通道期望输出y_main(n)计算协方差矩阵R和互相关向量P；

S7、利用协方差矩阵R和互相关向量P计算展宽后的旁瓣相消权值w，并进行旁瓣相消。

2.根据权利要求1所述的旁瓣相消中展宽零陷的方法，其特征在于：S1中所述主阵列训练样本x_main(n)的表达式为

x_main(n)＝[x_main,1(n),x_main,2(n),…,x_main,L(n)]^T，

所述辅助阵列训练样本x_aux(n)的表达式为

x_aux(n)＝[x_aux,1(n),x_aux,2(n),…,x_aux,M(n)]^T，

其中，n表示训练样本编号，n＝1,2,…,N，L表示主阵列阵元数，l＝1,2,…,L，M表示辅助阵列阵元数，m＝1,2,…,M，[·]^T表示转置。

3.根据权利要求1所述的旁瓣相消中展宽零陷的方法，其特征在于：S2中所述零陷需要展宽的宽度Δ的表达式为

其中，d为主阵列阵元间距，λ为雷达工作波长，θ₁与θ₂分别为所需宽零陷的起始角度与终止角度。

4.根据权利要求1所述的旁瓣相消中展宽零陷的方法，其特征在于，S3具体包括如下步骤：

S31、根据零陷需要展宽的宽度Δ，按照均匀分布产生主阵列随机变量φ_main(n)和辅助阵列随机变量φ_aux(n)，

S32、利用主阵列随机变量φ_main(n)和辅助阵列随机变量φ_aux(n)，产生主阵列的扰动向量E_main(n)和辅助阵列的扰动向量E_aux(n)，

其中，d₁,d₂，…,d_M为辅助阵列的阵元相对于主阵列相位中心的距离。

5.根据权利要求1所述的旁瓣相消中展宽零陷的方法，其特征在于，S5具体包括如下步骤：

S51、根据系统预设的主波束指向，得到主阵列的波束形成权值W_CBF，

其中，θ₀表示主波束指向；

S52、根据主阵列的波束形成权值W_CBF与扰动后的主通道训练样本进行波束形成，得到主通道期望输出y_main(n)，

其中，[·]^H表示共轭转置。