[发明专利]半导体元件的电流检测电路和电流检测方法有效
申请号: | 201811293924.X | 申请日: | 2018-11-01 |
公开(公告)号: | CN109946504B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 赤羽正志 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | G01R19/165 | 分类号: | G01R19/165 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 元件 电流 检测 电路 方法 | ||
1.一种半导体元件的电流检测电路,具备:
电流检测部,其在具有电流检测端子的电压控制型半导体元件的控制端子与驱动电路之间插入有第一电流检测用电阻,所述电流检测部检测该第一电流检测用电阻的两端子间的电位差;
电压检测部,其检测所述第一电流检测用电阻两端中的一端的电压;
电压判定部,其判定从该电压检测部输出的检测电压是否为第一阈值电压以上;
电压水平调整部,其至少根据所述电流检测部的检测信号与所述电压判定部的电压判定信号的逻辑与信号来调整所述电流检测端子的电流检测电压的电压水平;以及
过电流检测部,其在由该电压水平调整部调整后的所述电流检测电压为第二阈值电压以上时输出过电流检测信号。
2.根据权利要求1所述的半导体元件的电流检测电路,其特征在于,
所述电流检测部由比较器构成,该比较器具有与所述第一电流检测用电阻的两端分别连接的反相端子和非反相端子。
3.根据权利要求1所述的半导体元件的电流检测电路,其特征在于,
所述电压检测部具备连接于所述第一电流检测用电阻的两端中的任一端与接地之间的分压电路,该分压电路的分压电压被输出到所述电压判定部。
4.根据权利要求2所述的半导体元件的电流检测电路,其特征在于,
所述电压检测部具备连接于所述第一电流检测用电阻的两端中的任一端与接地之间的分压电路,该分压电路的分压电压被输出到所述电压判定部。
5.根据权利要求4所述的半导体元件的电流检测电路,其特征在于,
所述分压电路具有第一分压电阻与第二分压电阻的串联电路,第一分压电阻与所述第一电流检测用电阻的两端中的任一端连接,第二分压电阻与所述接地连接,从所述第一分压电阻与所述第二分压电阻之间输出分压电压。
6.根据权利要求5所述的半导体元件的电流检测电路,其特征在于,
所述分压电路还具备:第一电压比调整用电阻,其连接于所述第一电流检测用电阻的所述驱动电路侧与所述比较器的非反相输入端子之间;第二电压比调整用电阻,其连接于所述第一电流检测用电阻的所述控制端子侧与所述比较器的反相输入端子之间;以及第三分压用电阻,其连接于所述非反相输入端子与所述接地之间,
并且,所述第一分压电阻与所述第二分压电阻串联地连接在所述反相输入端子与所述接地之间。
7.根据权利要求5所述的半导体元件的电流检测电路,其特征在于,
所述分压电路还具备:第一电压比调整用电阻,其连接于所述第一电流检测用电阻的所述驱动电路侧与所述比较器的非反相输入端子之间;第二电压比调整用电阻,其连接于所述第一电流检测用电阻的所述控制端子侧与所述比较器的反相输入端子之间;以及第三分压用电阻,其连接于所述反相输入端子与所述接地之间,
并且,所述第一分压电阻与所述第二分压电阻串联地连接在所述非反相输入端子与所述接地之间。
8.根据权利要求3~7中的任一项所述的半导体元件的电流检测电路,其特征在于,
所述电压判定部具备一端与直流电源连接的电阻以及连接于该电阻的另一端与接地之间的第一开关元件,所述第一阈值电压是所述第一开关元件的阈值电压,所述分压电压被输入到所述第一开关元件的控制端子,从所述电阻与所述第一开关元件之间向所述电压水平调整部输出所述电压判定信号。
9.根据权利要求3~7中的任一项所述的半导体元件的电流检测电路,其特征在于,
所述电压判定部由将所述分压电路的分压电压与所述第一阈值电压进行比较的比较器构成。
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