[发明专利]磁性罩检测装置在审

专利信息
申请号: 201811295360.3 申请日: 2018-11-01
公开(公告)号: CN109443125A 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 丁友智;陈亚军;于朝阳;高凯明;丁嘉伟 申请(专利权)人: 无锡威孚奥特凯姆精密机械有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 石佩
地址: 214000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 磁性罩 检测装置 卡爪架 垫高块 沉孔 基板 导轨 卡爪 生产效率 可滑动 检测 内孔 架设 穿过 配合
【说明书】:

发明涉及一种磁性罩检测装置,磁性罩检测装置包括基板、垫高块以及卡爪架。其中,基板上开设有多个沉孔,沉孔用于放置磁性罩产品。基板的两侧均设置有导轨。垫高块设置于沉孔中,垫高块与磁性罩产品的内孔相匹。卡爪架用于检测磁性罩产品的尺寸,卡爪架架设在基体上,并且与导轨可滑动配合,卡爪架上设置有多个卡爪,卡爪能从相邻两个磁性罩产品的间隙中穿过。上述磁性罩检测装置能准确找出不符合标准的磁性罩产品,并且能同时对多个磁性罩产品进行检测,提高了生产效率。

技术领域

本发明涉及零件检测技术领域,特别是涉及一种磁性罩检测装置。

背景技术

磁性罩产品,特别是HDEV5磁性罩产品由于其结构特殊性,在生产时容易在其外圆环槽或内孔螺纹上产生铁屑等问题。在市场竞争日益激烈的今天,为了满足客户的质量要求,磁性罩产品必须经过质量检测,从而将具有外圆环槽铁屑、内孔螺纹铁屑等问题的磁性罩产品挑选出来。目前磁性罩产品检测主要通过人工目视检测,由于人工检测的局限性,不能保证问题产品能100%检测出来,并且人工检测效率不高。

发明内容

基于此,有必要针对上述问题,提供一种磁性罩检测装置。

一种磁性罩检测装置,包括:

基板,所述基板上开设有多个沉孔,所述沉孔用于放置磁性罩产品,所述基板的两侧均设置有导轨;

垫高块,设置于沉孔中,所述垫高块与所述磁性罩产品的内孔相匹配;

卡爪架,用于检测所述磁性罩产品的尺寸,所述卡爪架架设在所述基体上,并且与所述导轨可滑动配合,所述卡爪架上设置有多个卡爪,当所述磁性罩产品符合标准时,所述卡爪能从相邻两个磁性罩产品的间隙中穿过。

上述磁性罩检测装置通过在基板上设置有多个可容纳磁性罩产品的沉孔,并且在沉孔中设置有垫高块,由于垫高块与磁性罩产品的内径相匹配,所以当磁性罩产品的内孔中具有铁屑时,磁性罩产品无法套设在垫高块外,即无法放入沉孔内,此时即可判定该不磁性罩产品为不合格品。进一步地,卡爪架用于检测磁性罩产品的尺寸,当磁性罩产品套设在垫高块外时,相邻两个磁性罩产品之间的间隙的大小以及形状刚好可容卡爪通过。若磁性罩产品的外圆环槽中中具有铁屑时,会导致磁性罩产品的外形尺寸改变,进而会导致相邻两个磁性罩产品间的间隙大小或形状改变,在滑动卡爪架时,卡爪无法通过,此时也同样可判定该磁性罩产品为不合格品。综上所述,当磁性罩产品能放入沉孔中,并且使得卡爪能从相邻两个磁性罩产品的间隙中穿过,则可以认为这批磁性罩产品符合标准。通过上述磁性罩检测装置能准确找出不符合标准的磁性罩产品,并且能同时对多个磁性罩产品进行检测,提高了生产效率。

在其中一个实施例中,所述沉孔的底部开设有通孔,所述垫高块设置有凸出部,所述凸出部能卡接在所述通孔内。

在其中一个实施例中,所述磁性罩检测装置还包括紧固件,所述凸出部开设有螺纹孔,所述紧固件穿设在所述螺纹孔内,以使所述垫高块固定于所述基板上。

在其中一个实施例中,所述磁性罩检测装置还包括挡块,所述挡块设置在所述导轨的端部。

在其中一个实施例中,所述挡块与所述基板一体成型。

在其中一个实施例中,所述卡爪架包括第一滑块、第二滑块以及横梁,所述第一滑块与所述第二滑块分别与所述基板的两侧的所述导轨可滑动配合,所述横梁的两端分别通过紧固件连接所述第一滑块以及所述第二滑块,所述多个卡爪设置在所述横梁的靠近所述基板的表面上。

在其中一个实施例中,所述多个卡爪沿所述横梁的延伸方向均匀分布,相邻两个所述卡爪之间的距离比所述磁性罩产品的外圆环槽的直径大0.1mm-0.2mm。

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