[发明专利]一种快速且精准地获取组织样本神经元胞体位置的方法

说明书

本发明公开了一种快速且精准地获取组织样本神经元胞体位置的方法，然后在下一轮切割及成像过程中获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置信息，且下一轮切割及成像时间大于获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置信息的时间且小于获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置信息的时间的5倍，使得整个样本切割及成像完成后，只需要花费很少的时间完成最后一批表层图像中的胞体位置信息及整个组织样本的神经元胞体位置信息，从而大大缩短获得整个组织样本的神经元胞体位置信息的时间。

技术领域

本发明涉及图像处理技术，尤其是涉及一种快速且精准地获取组织样本神经元胞体 位置的方法。

背景技术

在大样本的光学成像技术领域，目前均是将所有组织切割完成获得所有表层图像后，再对所有表层图像进行处理以获得目标信息。关于获取组织样本的神经元胞体位置，也是先成像再对图像进行处理，这种方式存在一定的缺陷：1、表层成像的原始图片质 量不高，需要对图像进行预处理以提高图像的清晰度，由于大样本所形成的表层图像量 特别大，因此这种方式预处理的时间较长，从而使得整个图像处理的时间较长；2、可 以获得较清晰的原始表层图像，但成像的表层较厚，成像时间较长，使得成像过程中计 算部分表层图像中的胞体位置信息与成像完成后再统一计算全部表层图像中的胞体位 置信息在时间上相差不大，即不管是什么时候进行图像处理，整个获得胞体位置信息的 图像处理时间均较长。

综上所述，目前的获取组织样本的神经元胞体位置的方法，均需要花费的时间较长，对图像处理设备的要求也较高，增加了图像处理设备的成本。

目前需要解决的问题是，提供一种快速、准确地获取组织样本的神经元胞体位置的方法。

发明内容

本发明的目的在于克服上述技术不足，提出一种快速且精准地获取组织样本神经元 胞体位置的方法，解决现有技术中通过原始表层图像获取组织样本的神经元胞体位置花 费时间长的技术问题。

为达到上述技术目的，本发明的技术方案提供一种快速且精准地获取组织样本神经 元胞体位置的方法，包括如下步骤：

步骤a，对高度呈H的组织样本从一端开始对h厚度的表层进行成像，形成细胞形态清晰的表层图像，然后对完成成像的h厚度的表层进行切割，完成所述h厚度的表层 的成像及切割的时间为t1；

步骤b，连续重复步骤a，其中，完成多个h厚度的表层的成像及切割所需时间为t1，其中hH；

步骤c，顺序完成与所述步骤b中已完成成像及切割的多个h厚度的表层相邻的另一多个h厚度的表层的成像及切割，在步骤c中成像及切割过程中对已完成成像及切割 的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置进行计算，以确定所述部分及全部厚度的表层 图像中的细胞在三维空间中的位置信息，计算所述细胞位置所需时间为t2，其中， t2≤t1≤5t2；

步骤d，重复步骤b、c，相邻的用于计算细胞位置的表层图像依次顺接，直到完成最后一部分表层图像中的细胞在三维空间中的位置信息后，将多个表层图像中的细胞位置信息进行融合，以获得全部组织样本的细胞在三维空间中的位置信息。

与现有技术相比，本发明通过形成细胞形态清晰的表层图像，然后在下一轮切割及 成像过程中获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置信息，且下 一轮切割及成像时间大于获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置信息的时间且小于获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位 置信息的时间的5倍，使得整个样本切割及成像完成后，只需要花费很少的时间完成最 后一部分表层图像中的胞体位置信息及整个组织样本的神经元胞体位置信息，从而大大 缩短获得整个组织样本的神经元胞体位置信息的时间。

附图说明

图1是本发明的高通量光学层析成像方法的流程图；

图2是本发明的高通量光学层析成像方法的其中一个子流程图；