[发明专利]一种双频差分带通滤波器有效

专利信息
申请号: 201811295572.1 申请日: 2018-11-01
公开(公告)号: CN109546272B 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 岳豪杰;张晓航;胡雪涵;魏峰;史小卫 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01P1/203 分类号: H01P1/203
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 陈宏社;王品华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 双频 带通滤波器
【权利要求书】:

1.一种双频差分带通滤波器,其特征在于包括介质基板(1),所述介质基板(1)的上表面印制有微带谐振器,该微带谐振器由两个关于轴线AA'对称且开口相对的折叠型阶梯阻抗开口谐振环(2)组成,所述折叠型阶梯阻抗开口谐振环(2),由矩形开口谐振环和两个与该矩形开口谐振环宽度不同的折叠枝节连接而成,该折叠型阶梯阻抗开口谐振环(2)关于通过两个折叠枝节中点所在轴线BB'对称,且轴线BB'与轴线AA'垂直,用于实现双频特性;所述轴线AA'的一侧印制有第一阶梯阻抗微带线(3)、第一均匀阻抗微带线(4)和U型输入微带线(5),另一侧印制有第二阶梯阻抗微带线(6)、第二均匀阻抗微带线(7)和U型输出微带线(8),所述第一阶梯阻抗微带线(3)和第二阶梯阻抗微带线(6)均由L型微带线和直线型微带线组成,其中第一阶梯阻抗微带线(3)上的L型微带线和第二阶梯阻抗微带线(6)上的L型微带线关于轴线AA'对称,所述第一阶梯阻抗微带线(3)上的直线型微带线通过第一均匀阻抗微带线(4)与同侧的阶梯阻抗开口谐振环(2)相连,所述第二阶梯阻抗微带线(6)上的直线型微带线通过第二均匀阻抗微带线(7)与同侧的阶梯阻抗开口谐振环(2)相连,且第一均匀阻抗微带线(4)与第二均匀阻抗微带线(7)关于微带谐振器的中心对称;

所述介质基板(1)的下表面印制有金属地板(9),所述轴线AA'在金属地板(9)上的投影的一侧蚀刻有相互连接的第一阶梯阻抗缝隙线(10)和第二阶梯阻抗缝隙线(11),该第一阶梯阻抗缝隙线(10)与U型输入微带线(5)耦合连接,另一侧蚀刻有相互连接的第三阶梯阻抗缝隙线(12)和第四阶梯阻抗缝隙线(13),该第四阶梯阻抗缝隙线(13)与U型输出微带线(8)耦合连接;所述第二阶梯阻抗缝隙线(11)和第三阶梯阻抗缝隙线(12)均由L型缝隙线和直线型缝隙线组成,所述第二阶梯阻抗缝隙线(11)上的L型缝隙线和第三阶梯阻抗缝隙线(12)上的L型缝隙线关于轴线AA'在金属地板(9)上的投影对称。

2.根据权利要求1所述的一种双频差分带通滤波器,其特征在于,所述第一均匀阻抗微带线(4)和第二均匀阻抗微带线(7),与轴线BB'平行,用以实现0度馈电。

3.根据权利要求1所述的一种双频差分带通滤波器,其特征在于,所述第一阶梯阻抗微带线(3)和第二阶梯阻抗微带线(6),其上的L型微带线的一个臂与轴线AA'平行。

4.根据权利要求1所述的一种双频差分带通滤波器,其特征在于,所述第二阶梯阻抗缝隙线(11)和第三阶梯阻抗缝隙线(12),其上的L型缝隙线的一个臂与轴线AA'在金属地板(9)上的投影平行。

5.根据权利要求1所述的一种双频差分带通滤波器,其特征在于,所述第一阶梯阻抗微带线(3),其L型微带线与直线型微带线连接处在金属地板(9)上的投影,与第二阶梯阻抗缝隙线(11)的直线型缝隙线远离轴线BB'一侧的延长线重合;所述第二阶梯阻抗微带线(6),其L型微带线与直线型微带线连接处在金属地板(9)上的投影,与第三阶梯阻抗缝隙线(12)的直线型缝隙线远离轴线BB'一侧的延长线重合。

6.根据权利要求1所述的一种双频差分带通滤波器,其特征在于,所述U型输入微带线(5)和U型输出微带线(8),均由一条平行于AA'的微带底和两条平行于BB'的微带臂组成,且该U型输入微带线(5)和U型输出微带线(8)关于微带底的中点所在轴线CC'对称,该轴线CC'与轴线AA'垂直,其中U型输入微带线(5)的输入微带臂与U型输出微带线(8)的输出微带臂的宽度相同,均为50Ω阻抗线宽。

7.根据权利要求6所述的一种双频差分带通滤波器,其特征在于,所述第一阶梯阻抗缝隙线(10),由一条矩形缝隙和一条直线缝隙组成,其中第一矩形缝隙靠近轴线AA'的边线与U型输入微带线(5)微带底远离轴线AA'的边线重合,第一直线缝隙的长度与U型输入微带线(5)微带底的宽度相同;所述第二阶梯阻抗缝隙线(13)由一条矩形缝隙和一条直线缝隙组成,其中矩形缝隙内侧线与U型输出微带线(8)的底线内侧线重合,直线缝隙的长度与U型输出微带线(8)的底的宽度相同。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811295572.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top