[发明专利]一种AEP内存的数据块链路特性测试方法有效

专利信息
申请号: 201811298689.5 申请日: 2018-11-02
公开(公告)号: CN109408277B 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 贠雄斌 申请(专利权)人: 郑州云海信息技术有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 刘晓政
地址: 450000 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 aep 内存 数据 块链路 特性 测试 方法
【说明书】:

发明提供了一种内存的数据块链路特性测试方法,包括如下步骤:1)依据AEP内存的APP mode的regionID创建数据块空间;2)格式化创建的数据块空间,并挂载到系统路径中;3)制作IO流测试配置表,通过配置参数调整测试数据块不同大小、容量、深度、测试时长、读写,对数据空间盘测试验证;4)依据测试的数据空间盘命名导入不同测试log收集文档中;测试结束。该方法可以有效的检测AEP内存的数据块链路,进行读写操作,不同数据块大小容量切换测试,测试结果收集的方面。

技术领域:

本发明涉及的是一种用于AEP内存的数据块链路特性测试方法。

背景技术:

AEP内存简称Apache Pass DIMMs,为高性能和灵活性而设计的,TheOptaneTMDC persistent memory(DCPMM)是新一代直流持久记忆非易失性存储器模块,引入OptaneTM媒体技术记忆媒体DDR4形式因素。支持内存操作模式是Memory Mode(volatile)和App Direct(persistent memory)。AEP内存测试中有一项基本特性的测试是要求数据块链路测试,数据块就是数据空间块,是基于App Direct mode特性创建的一种可用于存储数据流交换的闪存空间设备块,具有memory flash的特性,当电流关掉后,所存储的数据不会消失者的电脑存储器。既然是数据空间块当数据流IO时,在同一区块中相近的记忆单元内容改变或进行写入时,由于阈值电压接近的关系,相邻的位(bit)也被升高,从而造成相邻的位出错,而形成读写干扰的问题。目前AEP内存的数据块链路特性测试方法,就是基于验证数据块链路的读写品质,以保障服务器使用中的稳定性,降低后续维护成本。目前在AEP内存的数据块链路测试中,各厂商都是在摸索测试阶段,没有形成统一的标准和规则。

发明内容:

本发明的目的就是针对现有技术所存在的不足,而提供一种AEP内存的数据块链路特性测试方法,该方法可以有效的检测AEP内存的数据块链路,进行读写操作,不同数据块大小容量自由切换测试,测试结果自行收集的方面。

本方案是通过如下技术措施来实现的:1.一种AEP内存的数据块链路特性测试方法,包括如下步骤:1)依据AEP内存的APP mode的regionID创建数据块空间;2)格式化创建的数据块空间,并挂载到系统路径中;3)制作IO流测试配置表,通过配置参数调整测试数据块不同大小、容量、深度、测试时长、读写,对数据空间盘测试验证;4)依据测试的数据空间盘命名导入不同测试log收集文档中;测试结束。实现了是创建数据块空间、格式化数据空间、挂载路径确定、IO流的控制、测试结果分类收集。

步骤1)中,首先开启AEP内存的App Direct mode特性功能,将内存的存储介质特性和空间RegionID形成对应关系。开启AEP内存的App Direct mode特性功能后,在通过ndctl list–R命令查看RegionID,如果Regionid出现则AppDirect属性开启成功,否则失败。创建数据空间盘,方法如下:使用厂商工具ndctl列出存在的数据空间region,参考下面自动化创建的方式

格式化创建的数据块空间,然后制作为Ext4或xfs数据空间盘。制作为Ext4或xfs数据空间盘后,逐一提取数据空间盘符名称,然后创建挂载点,挂载数据空间盘到指定系统路径,提取系统中数据空间块到pmlst表。num=$(ndctl list|grep'namespace'|wc-l)#检测系统中数据空间块的数量

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