[发明专利]针对XRF元素测定的滤片、滤片制备方法、测定盒、元素测定方法

说明书

本发明公开了一种XRF元素测定方法，包括：制备多个最终滤片；依次将该最终滤片加载至未知样品的XRF测定处，分别获得该未知样品和每个该最终滤片共有的该待测元素的含量信息；根据所有该含量信息，获得该未知样品的该待测元素的含量。本发明能够对任意基体材料的样品进行快速而准确的测试，克服X射线荧光光谱仪的缺陷之一，即一般需要针对待测基体如塑料、土壤等先用相应基体的标准物质如塑料、土壤等对仪器校准后方可使用的限制，不需要基体标准物质校准仪器，直接测定，成本低，方便快捷。

本申请为分案申请。

原申请的申请日：2015.12.01申请号：201510868143.9

发明名称：针对XRF元素测定的滤片、滤片制备方法、测定盒、元素测定方法

技术领域

本发明涉及物质测定技术领域，尤其涉及针对XRF元素测定的滤片、滤片制备方法、测定盒、元素测定方法。

背景技术

XRF(x射线荧光光谱仪)具有不需要样品前处理(主要是消解)，测试快速的特点，缺点也是非常明显的，主要表现在基体效应大，严重依赖基体标准物质进行仪器校准，目前由于基体种类复杂，干扰不尽相同，极大地限制了XRF仪器的推广和应用，例如，以铁合金为例，不锈钢样品中的元素含量测定如果错误的使用了低碳合金钢的校准曲线，测试结果就差异巨大，因此，如果测定不同类型的样品，就需要不同类型的标准品首先校准仪器，例如，需要铝合金的标准样品测定铝合金的未知样品；如果测定铜合金则需要铜合金的标准品，否则仪器不能给出准确可靠的测量结果。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提出针对XRF元素测定的滤片、滤片制备方法、测定盒、元素测定方法。

本发明提出一种针对XRF元素测定的滤片制备方法，其特征在于，包括：

分别取多种浓度待测元素的溶液置于载体上，或直接将待测元素化合物和载体直接混匀，并进行干燥处理，获得原始滤片，将所述原始滤片制成尺寸与待测定物质相匹配比X射线光斑大，其中将一种或多种待测元素的溶液置于所述载体上。

所述的针对XRF元素测定的滤片制备方法，所述载体为硬脂酸、纤维素、滤纸、硼酸、淀粉等中的一种或几种。

所述的针对XRF元素测定的滤片制备方法，将所述溶液，通过酒精、三乙醇胺混合后与所述载体进行混合，或所述溶液直接与所述载体进行混合。

所述的针对XRF元素测定的滤片制备方法，将所述载体与含所述待测元素的固体高纯化合物进行混匀，压片后制成滤片。

所述的针对XRF元素测定的滤片制备方法，通过密封材料将所述最终滤片进行密封，其中所述密封材料为塑料薄膜。

本发明还提出一种利用滤片制备方法制成的滤片。

本发明还提出一种针对XRF元素测定的测定盒，用于盛放所述滤片，所述测定盒包括：

盒体，在所述盒体上设置多个凹槽，用于盛放所述滤片，多个所述凹槽在所述盒体上均匀排布，其中每个凹槽中放置一种所述滤片，所述凹槽为一端开口，另一端通过透明材料进行封闭，以便盛放所述滤片。

所述的针对XRF元素测定的测定盒，所述测定盒还包括盖体，所述盖体与所述盒体相契合，用于保护所述滤片。

所述的针对XRF元素测定的测定盒，包括凹槽盖体，所述凹槽盖体与所述凹槽相契合，且处于分离状态，或所述凹槽盖体与所述凹槽通过连接部进行连接，当更换所述滤片时，打开所述凹槽盖体。

所述的针对XRF元素测定的测定盒，所述凹槽呈正方形或长方形结构排列，横排所述凹槽中为任一浓度元素的所述滤片，竖排所述凹槽中为任一元素的所述滤片。