[发明专利]一种数据压缩方法及装置有效
申请号: | 201811306241.3 | 申请日: | 2018-11-05 |
公开(公告)号: | CN109474279B | 公开(公告)日: | 2022-09-23 |
发明(设计)人: | 詹文法;陶鹏程;邵志伟;江健生;程一飞;冯学军;吴海峰;张振林 | 申请(专利权)人: | 安庆师范大学 |
主分类号: | H03M7/30 | 分类号: | H03M7/30 |
代理公司: | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人: | 丁瑞瑞 |
地址: | 246133 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据压缩 方法 装置 | ||
本发明公开了一种数据压缩方法,方法包括:1)、获取待压缩向量,并将待压缩的数据切分为若干个等长的数据块;2)、将当前参考向量之后的待压缩向量作为当前待压缩向量;3)、判断对应位置上的数据块之间的相容性;若相容,将数据块的编码值设置为第一码值,更新当前参考向量;若反向相容,将当前待压缩向量的编码值设置为第二码值,更新当前参考向量;若不相容,将当前待压缩向量的编码值设置为第三码值,更新当前参考向量;4)、将当前待压缩向量的下一向量作为当前待压缩向量,并返回执行步骤3),直至对所有待压缩向量进行了压缩。本发明公开了一种数据压缩装置。应用本发明,避免了相容性减小的技术问题。
技术领域
本发明涉及一种数据处理方法及装置,更具体涉及一种数据压缩方法及装置。
背景技术
ATE(Automatic Test Equipment,自动化测试设备)用于检测集成电路功能的完整性,是集成电路生产制造的最后流程,以确保集成电路生产制造的品质,占据着集成电路生产制造的大部分成本。随着集成电路设计规模的增大,待测试数据量呈现指数级增长,这导致了传统外部ATE面临着存储空间不足,输入输出时的带宽有限及数据测试时间过长等严峻的问题,测试成本越来越高。测试数据压缩是解决上述问题的有效方法之一,通过压缩测试数据可以减少数据传输时间以及降低对ATE存储容量的要求。
目前,通常将每一个待压缩的测试向量切分成多个数据块,根据数据快相容或者反向相容的判断结果,进行待压缩测试下向量的压缩。相容压缩方法的基本原理是选取一段测试数据作为参考数据,待压缩向量与参考向量做相容性比较,根据相容性编码待压缩向量,解压时根据标记位和参考数据还原压缩数据,可以达到良好的压缩效果。例如,01X0与0XX0相容,01X0与10X1反向相容,01X0与11X0没有相容关系。但是在对测试集编码的时候,如果两数据块具有相容关系,数据块中的某些无关位需要被确定,以便还原时的准确性。例如,01X0为参考数据块,数据块0110与其相容,编码时需要将参考数据块01X0的无关位参照数据块0110填充为0110,这样才能根据参考数据块,还原出相容数据块0110。因此,现有技术存在,无关位不断被填充导致无关位会越来越少,进而导致了两数据块之间的相容性减小的技术问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供了一种数据压缩方法及装置,以解决现有技术存在的两数据块之间的相容性减小的技术问题。
本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的:
本发明实施例提供了一种数据压缩方法,所述方法包括:
1)、获取待压缩向量,并将所述待压缩的数据切分为若干个等长的数据块;
2)、按照针对所述待压缩向量的编码顺序,将编码顺序对应的第一个待压缩向量作为当前参考向量,将所述当前参考向量之后的待压缩向量作为当前待压缩向量;
3)、判断所述当前参考向量与所述当前待压缩向量对应位置上的数据块之间的相容性;若相容,将所述数据块的编码值设置为第一码值,根据所述当前参考向量与所述当前待压缩向量更新当前参考向量;若反向相容,将当前待压缩向量的编码值设置为第二码值,根据所述当前参考向量的共轭向量与所述当前待压缩向量更新当前参考向量;若不相容,将当前待压缩向量的编码值设置为第三码值,根据所述当前参考向量与所述当前待压缩向量的异或运算结果更新当前参考向量;
4)、将所述当前待压缩向量的下一向量作为当前待压缩向量,并返回执行步骤3),直至对所有待压缩向量进行了压缩。
可选的,所述根据所述当前参考向量与所述当前待压缩向量更新当前参考向量,包括:
参考所述当前参考向量,针对所述当前待压缩向量中的每一位,判断当前待压缩向量中的每一位是否与当前参考向量中的对应位相同;
若是,将当前编码向量中该位的码值或者当前参考向量中对应位的码值作为更新后的码值;
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