[发明专利]一种超导轴承承载性能测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种超导轴承承载性能测试系统，其特征在于，包括轴承测试装置、平台支撑机构、多通道控制仪和计算机，所述轴承测试装置设于所述平台支撑机构上，

所述轴承测试装置包括径向密封定位测量机构和轴向密封定位测量机构，所述径向密封定位测量机构和所述轴向密封定位测量机构分别和所述多通道控制仪连接，所述多通道控制仪和所述计算机连接；

所述径向密封定位测量机构包括四个径向定位测量组件和两个径向密封定位导向件，两个所述径向密封定位导向件均为圆桶状，两个所述径向密封定位导向件的底部均开设有通孔，待测量径向型高温超导磁悬浮轴承的主轴的两端分别穿出两个所述径向密封定位导向件底部的通孔，两个所述径向密封定位导向件的桶壁上均设有两个对称设置的通孔，两个所述径向定位测量组件分别安装于一个所述径向密封定位导向件的两个所述通孔内，另外两个所述径向定位测量组件分别安装于另一个所述径向密封定位导向件的两个所述通孔内，两个所述径向定位测量组件分别设于所述主轴一端的两侧且共第一轴线，且所述第一轴线与所述主轴的轴线垂直且相交，另外两个所述径向定位测量组件分别设于所述主轴另一端的两侧且共第二轴线，且所述第二轴线与所述主轴的轴线垂直且相交，所述第一轴线和所述第二轴线平行；

所述轴向密封定位测量机构包括两个轴向定位测量组件和两个轴向密封组件，一个所述轴向密封组件与一个所述径向密封定位导向件的开口端固定连接，另一个所述轴向密封组件与另一个所述径向密封定位导向件的开口端固定连接，两个所述轴向定位测量组件分别安装于两个所述轴向密封组件上，两个所述轴向定位测量组件分别设于所述主轴的两个端部，且两个所述轴向定位测量组件与所述主轴共轴线。

2.如权利要求1所述的超导轴承承载性能测试系统，其特征在于，所述径向定位测量组件包括直线轴承、直线轴承轴、直线轴导向件、径向力传感器、径向推拉连接件和径向螺纹推杆；

所述直线轴承套设于所述直线轴承轴上，所述直线轴承轴远离所述主轴的一端与所述径向力传感器的一端固定连接，所述径向力传感器的另一端与所述径向推拉连接件固定连接，所述径向螺纹推杆的一端设于所述径向推拉连接件的腔体内，所述径向螺纹推杆的另一端从所述通孔穿出所述径向密封定位导向件，所述径向螺纹推杆与所述通孔螺纹连接。

3.如权利要求2所述的超导轴承承载性能测试系统，其特征在于，所述径向密封定位测量机构还包括径向位移传感器，所述径向位移传感器的探头发射端对准所述主轴的轴心设置。

4.如权利要求1所述的超导轴承承载性能测试系统，其特征在于，两个轴向定位测量组件分别为上轴向定位测量组件和下轴向定位测量组件，所述上轴向定位测量组件包括上轴向螺纹推杆、上轴向密封导向件、轴向推拉连接件、上轴向力传感器和轴向位移传感器；

所述上轴向密封导向件安装于所述轴向密封组件，所述上轴向力传感器的一端与所述轴向推拉连接件固定连接，所述上轴向螺纹推杆的一端设于所述轴向推拉连接件的腔体内，所述上轴向螺纹推杆远离所述轴向推拉连接件的一端穿出所述上轴向密封导向件，且所述上轴向螺纹推杆与所述上轴向密封导向件螺纹连接，所述上轴向螺纹推杆与所述主轴共轴线，轴向位移传感器的探头发射端对准水平固定在主轴上的探头感应片设置。

5.如权利要求1所述的超导轴承承载性能测试系统，其特征在于，两个轴向定位测量组件分别为上轴向定位测量组件和下轴向定位测量组件，所述下轴向定位测量组件包括下轴向力传感器，下轴向螺纹推杆和下轴向密封导向件；

所述下轴向密封导向件安装于所述轴向密封组件，所述下轴向力传感器的一端与所述下轴向螺纹推杆的一端连接，所述下轴向螺纹推杆远离所述下轴向力传感器的一端穿出所述下轴向密封导向件，且所述下轴向螺纹推杆与所述下轴向密封导向件螺纹连接，所述下轴向螺纹推杆与所述主轴共轴线。

6.如权利要求1所述的超导轴承承载性能测试系统，其特征在于，两个轴向密封组件分别为上轴向密封组件和下轴向密封组件，所述上轴向密封组件包括上顶盖和上支撑件，所述上支撑件为圆柱形壳体，所述上支撑件的一端与一个所述径向密封定位导向件的开口端固定连接，所述上顶盖设于所述上支撑件的另一端，所述上支撑件的壳体上设有上径向透视窗，所述上顶盖上设有上真空连接件和上轴向透视窗。