[发明专利]存储装置及其操作方法

说明书

本公开提供了一种存储装置及其操作方法。所述存储装置包括：存储单元阵列，所述存储单元阵列包括多个存储单元，所述多个存储单元中的每一个存储单元具有开关元件和数据存储元件，所述数据存储元件连接到所述开关元件并且包含相变材料；以及存储控制器，所述存储控制器用于从所述多个存储单元获得第一读取电压，将第一写入电流输入到所述多个存储单元，然后从所述多个存储单元获得第二读取电压，其中所述存储控制器将所述多个存储单元中的第一存储单元的所述第一读取电压与所述第一存储单元的所述第二读取电压进行比较，以确定所述第一存储单元的状态。

相关申请的交叉引用

本申请根据要求于2017年11月27日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2017-0159312的优先权，通过引用将其全部公开内容并入本文。

技术领域

本发明构思涉及一种存储装置及其操作方法。

背景技术

随着对低功耗和高度集成的存储装置的需求的增加，正在进行对各种类型的下一代存储装置的研究。正在研究的一个示例下一代存储装置可以通过调整具有相变特性的数据存储元件的电阻大小来存储和删除数据。

发明内容

根据本发明构思的示例性实施例，一种存储装置可以包括：存储单元阵列，所述存储单元阵列包括多个存储单元，所述多个存储单元中的每一个存储单元具有开关元件和数据存储元件，所述数据存储元件连接到所述开关元件并且包含相变材料；以及存储控制器，所述存储控制器从所述多个存储单元获得第一读取电压，将第一写入电流输入到所述多个存储单元，然后从所述多个存储单元获得第二读取电压，其中所述存储控制器将所述多个存储单元中的第一存储单元的所述第一读取电压与所述第一存储单元的所述第二读取电压进行比较，以确定所述第一存储单元的状态。

根据本发明构思的示例性实施例，一种存储装置可以包括：存储单元阵列，所述存储单元阵列包括多个存储单元，所述多个存储单元中的每一个存储单元具有开关元件和数据存储元件，所述数据存储元件连接到所述开关元件并且包含相变材料；以及存储控制器，所述存储控制器用于将读取电流输入到所述多个存储单元，从所述多个存储单元顺序地检测第一读取电压和第二读取电压，并且将所述多个存储单元中的第一存储单元的所述第一读取电压与所述第一存储单元的所述第二读取电压进行比较，以确定所述第一存储单元的状态。

根据本发明构思的示例性实施例，一种存储装置可以包括：存储单元，所述存储单元具有开关元件和数据存储元件，所述数据存储元件连接到所述开关元件并且包含相变材料；以及存储控制器，所述存储控制器用于从所述存储单元顺序地检测第一读取电压和第二读取电压，并且将所述第一读取电压与所述第二读取电压进行比较，以将所述存储单元的状态确定为置位状态或复位状态；其中，当所述存储单元的状态被确定为所述置位状态时，所述存储控制器将用于将所述存储单元的状态设置为所述置位状态的置位写入电流输入到所述存储单元。

根据本发明构思的示例性实施例，一种操作存储装置的方法可以包括：从多个存储单元中的每一个存储单元获得第一读取电压；从所述多个存储单元中的每一个存储单元获得第二读取电压；针对所述多个存储单元中的每一个存储单元，将其第一读取电压与其第二读取电压进行比较，以将所述存储单元的状态确定为置位状态或复位状态；以及将用于将所述多个存储单元的状态设置为所述置位状态的置位写入电流，输入到所述多个存储单元中被确定为处于所述置位状态的那部分存储单元。

附图说明

通过参考附图详细描述本发明构思的示例性实施例，将更清楚地理解本发明构思的上述特征和其他特征，其中：

图1是示意性地例示了根据本发明构思的示例性实施例的存储装置的框图；

图2是根据本发明构思的示例性实施例的包括在存储装置中的存储单元阵列的电路图；

图3是示意性地例示了根据本发明构思的示例性实施例的包括在存储装置中的存储单元的结构的透视图；