[发明专利]钝化接触电池及其制备方法有效
申请号: | 201811313140.9 | 申请日: | 2018-11-06 |
公开(公告)号: | CN110459642B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 杨亚娣;蔡文浩;麻增智;顾文操;钱小立;盛健 | 申请(专利权)人: | 协鑫集成科技股份有限公司;协鑫集成科技(苏州)有限公司;张家港协鑫集成科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐清凯 |
地址: | 201406 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 钝化 接触 电池 及其 制备 方法 | ||
1.一种钝化接触电池的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
在N型硅片的正面进行硼扩散形成P+层和正面硼硅玻璃;
去除背面的背结后,在背面依次生长隧穿氧化层、背面非晶硅层,之后在背面进行磷扩散形成N+层和背面磷硅玻璃,其中,磷扩散自然形成的背面磷硅玻璃作为背面掩膜;在生长背面非晶硅层的过程中,在正面形成了正面非晶硅层;在背面进行磷扩散的过程中,在正面形成了正面磷硅玻璃;
增加背面掩膜的厚度,之后依次去除正面磷硅玻璃、正面非晶硅层、背面掩膜与正面硼硅玻璃;
在正面生长氧化铝,之后在正面和背面形成氮化硅膜;以及
在正面和背面印刷银电极,烧结之后得到钝化接触电池;
所述增加背面掩膜的厚度的操作为:将形成背面磷硅玻璃后的N型硅片进行氧化处理,维持反应温度为700℃-900℃,氧气流量为500sccm-2000sccm,反应时间为5min-60min。
2.根据权利要求1所述的钝化接触电池的制备方法,其特征在于,所述增加背面掩膜的厚度至5nm-15nm。
3.根据权利要求1所述的钝化接触电池的制备方法,其特征在于,在所述N型硅片的正面形成P+层的步骤之前还包括在N型硅片的正面制绒的步骤。
4.根据权利要求1所述的钝化接触电池的制备方法,其特征在于,所述去除正面磷硅玻璃的操作采用链式单面刻蚀的方式。
5.根据权利要求1或4所述的钝化接触电池的制备方法,其特征在于,所述去除正面磷硅玻璃的操作为:在链式单面刻蚀装置中配制氢氟酸溶液,设置1m/s-2m/s带速,正面朝下,刻蚀N型硅片的正面磷硅玻璃,刻蚀完成后使用去离子水清洗并烘干。
6.根据权利要求5所述的钝化接触电池的制备方法,其特征在于,所述去除正面磷硅玻璃的操作中,氢氟酸的体积分数为5%-20%。
7.根据权利要求1所述的钝化接触电池的制备方法,其特征在于,去除正面非晶硅层的操作为:在槽式装置中配制氢氧化四甲基铵溶液,设置温度为50℃-80℃,放入去完正面磷硅玻璃的N型硅片,反应100s-800s完成后,使用去离子水清洗并烘干。
8.根据权利要求7所述的钝化接触电池的制备方法,其特征在于,所述氢氧化四甲基铵的体积分数为3%-15%。
9.根据权利要求1所述的钝化接触电池的制备方法,其特征在于,去除背面掩膜与正面硼硅玻璃的操作为:在槽式装置中配制10%-20%vol氢氟酸溶液,放入去完正面非晶硅层的N型硅片,反应100s-800s,使用去离子水清洗并烘干。
10.一种钝化接触电池,其特征在于,采用如权利要求1-9任一项所述的钝化接触电池的制备方法制备而成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的