[发明专利]全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置及方法

权利要求书

1.一种全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置，其特征在于，包括：宽谱光源，其与第一耦合器相连；第一耦合器的一支输出尾纤通过马赫曾德干涉参考相位臂与第二耦合器的一支输入尾纤相熔接；第一耦合器的另一支输出尾纤与待测1/4波片的一端以45°对轴熔接，待测1/4波片的另一端与第二耦合器的另一支输入尾纤以45°对轴熔接；所述待测1/4波片及与其相连接的熔点均放置于温度可调节且能保持稳定的空间内；

第一耦合器输出的两束光在经过不同的相位延迟后进入第二耦合器，并在第二耦合器中发生干涉；发生干涉后的光经第二耦合器的两输出尾纤分别输出至相应探测器中，由探测器传送至处理器中求解出当前温度下1/4波片的相位延迟；

待测1/4波片的相位延迟φ_1/4波片为：

其中，T_out1和T_out2分别是第二耦合器的两个输出端口的透射系数；E_in是宽谱光源的输出场强；I_out1和I_out2分别是第二耦合器的两个输出端口光强。

2.如权利要求1所述的一种全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置，其特征在于，所述处理器还被配置为：

存储不同温度下1/4波片相位延迟；

实时拟合1/4波片相位延迟随温度变化的曲线。

3.如权利要求1所述的一种全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置，其特征在于，所述马赫曾德干涉参考相位臂是由第一耦合器的输出尾纤和第二耦合器的输入尾纤直接进行0度熔接形成。

4.如权利要求1所述的一种全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置，其特征在于，第一耦合器和第二耦合器的分光比均为1：1。

5.如权利要求1所述的一种全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置，其特征在于，所述待测1/4波片及与其相连接的熔点均放置于试验温箱内，所述试验温箱的温度可调范围为-40℃～70℃，温变速率设定为1℃/1min。

6.如权利要求1所述的一种全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置，其特征在于，所述探测器通过信号处理电路与处理器相连。

7.一种如权利要求1-6中任一项所述的全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

宽谱光源输出的光信号进入第一耦合器；

第一耦合器输出的两束光在经过不同的相位延迟后进入第二耦合器，并在第二耦合器中发生干涉；

发生干涉后的光经第二耦合器的两输出尾纤输出；

探测器将检测到的第二耦合器的两输出尾纤输出的光信号并传送至处理器，由处理器求解出当前温度下1/4波片的相位延迟。

8.如权利要求7所述的一种全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置的测试方法，其特征在于，待测1/4波片的相位延迟φ_1/4波片为：

其中，T_out1和T_out2分别是第二耦合器的两个输出端口的透射系数；E_in是宽谱光源的输出场强；I_out1和I_out2分别是第二耦合器的两个输出端口光强。

9.如权利要求7所述的一种全光纤电流互感器用1/4波片相位延迟自动测试装置的测试方法，其特征在于，该方法还包括：

存储不同温度下1/4波片相位延迟；

实时拟合1/4波片相位延迟随温度变化的曲线。