[发明专利]电容器检测设备及其检测方法

权利要求书

1.电容器检测方法，其特征在于，包括：

载具，在所述载具上设有多个卡孔，所述卡孔用于对待检测电容器进行承载；

传输装置，所述传输装置用于对所述载具进行传输；

图像采集组件，包括设置于所述传输装置上方的上图像采集组件和设置于所述传输装置下方的下图像采集组件，所述上图像采集组件和下图像采集组件用于对待检测电容器的外表面进行缺陷检测，所述上图像采集组件和下图像采集组件分别包括：多个设置于一排的图像采集器，且所述上图像采集组件和下图像采集组件包括的图像采集器的数量与所述载具上一排的卡孔数量相同，且每个所述图像采集器具有其唯一的代码，缺陷检测的具体步骤如下：

6.1)所述上图像采集组件和下图像采集组件同时对待检测电容器的外表面进行图像采集；

6.2)每个所述图像采集器将其自身的代码与采集的原始图像进行绑定，绑定后发送给处理器；

6.3)处理器根据代码信息，对原始图像进行定位分割，提取出待检测电容器的局部图像；

6.4)处理器将待检测电容器的局部图像与无缺陷电容器图像库内的图像进行一一匹配；

若有一幅匹配成功，则该电容器无缺陷；

若均匹配不成功，则该电容器存在缺陷，且进入步骤6.5)；

6.5)处理器将待检测电容器的局部图像与缺陷电容器图像库内的图像进行一一匹配，确定该局部图像与哪一幅或多幅无缺陷电容器图像库内图像的匹配度较高以及对应的图像匹配度；

6.6)处理器通过下式得出缺陷检测分数；

C＝100-(a1*S1+...+ai*S1+...aj*S1)-...-(a1*Si+...+ai*Si+...aj*Si)-(a1*Sn+...+ai*Sn+...aj*Sn)；

其中，ai为局部图像与缺陷电容器图像库内的图像的一副匹配度较高图像的图像匹配度；

Si为局部图像与缺陷电容器图像库内的图像中的一副匹配度较高图像的对应的分数；

性能检测装置，包括：性能检测电路板以及用于带动所述性能检测电路板升降的升降组件，所述性能检测装置用于对待检测电容器的电学性能进行检测。

2.根据权利要求1所述的电容器检测方法，其特征在于，多个所述卡孔在所述载具上呈矩阵分布。

3.根据权利要求2所述的电容器检测方法，其特征在于，所述上图像采集组件和下图像采集组件分别包括：多个设置于一排的图像采集器，且所述上图像采集组件和下图像采集组件包括的图像采集器的数量与所述载具上一排的卡孔数量相同。

4.根据权利要求3所述的电容器检测方法，其特征在于，所述电容器检测设备还包括：剔除组件，所述剔除组件用于将检测后有问题的电容器剔除出来；

所述剔除组件包括：剔除机械臂、设置于所述剔除机械臂上的吸附板以及设置于所述吸附板上的一个或多个吸附孔，所述吸附孔通过吸附板内的吸附通道与抽真空装置连接，所述剔除机械臂带动所述吸附板动作。

5.根据权利要求4所述的电容器检测方法，其特征在于，当所述吸附板上设有多个吸附孔时，多个所述吸附孔设置于一排，且所述吸附孔的数量与所述载具上一排的卡孔数量相同。

6.根据权利要求1-5任一项所述的电容器检测方法，其特征在于，所述电容器检测设备还包括：光源组件，所述光源组件用于对待检测电容器进行照明；

所述光源组件设置于所述上图像采集组件和/或下图像采集组件的两侧。

7.根据权利要求6所述的电容器检测方法，其特征在于，所述传输装置上设有连接板，所述连接板与所述光源组件转动连接。

8.根据权利要求1-5任一项所述的电容器检测方法，其特征在于，所述上图像采集组件和下图像采集组件分别设置于调节组件上，所述调节组件对所述上图像采集组件和下图像采集组件的上下、左右位置进行调节。

9.根据权利要求1所述电容器检测方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

1)将对待检测电容器一一置于载具的卡孔上；

2)将载具放置于传输装置上；

3)传输装置将载具传输至检测工位；

4)升降组件带动性能检测电路板上升直至性能检测电路板上的检测触头与载具上的待检测电容器接触，性能检测电路板对电容器的电学性能进行检测；

5)电学性能检测完成后，升降组件带动性能检测电路板回到原始位置；

6)上图像采集组件和下图像采集组件同时对待检测电容器的外表面进行缺陷检测；

7)缺陷检测完成后，传输装置将载具传输至后一工位。