[发明专利]一种测量反射材料反射率与吸收系数的装置和方法

权利要求书

1.一种测量反射材料反射率与吸收系数的装置，其特征在于：包括激光光源模块，准直模块，样品室，光强测量模块；其中激光光源模块与准直模块相连接，准直模块与样品室相连接，样品室与光强测量模块相连接；激光光源模块包括可调谐半导体激光器，电流控制系统；准直模块包括激光准直镜，光具座；样品室包括第一样品室，第二样品室；光强测量模块包括光电转换探头，光功率计，计算机终端。

2.根据权利要求1所述的一种测量反射材料反射率与吸收系数的装置，其特征在于：所述的可调谐半导体激光器为基于电流控制技术的采样光栅DBR激光器，可通过调节其控制电流，使其输出特定波长的激光。

3.根据权利要求1所述的一种测量反射材料反射率与吸收系数的装置，其特征在于：所述激光光源模块发出的光线经过所述准直模块进行准直，照射到所述样品室表面，穿过样品室的光线由所述光强测量模块进行收集，最终得到光强读数，通过特定算法进行数据处理。

4.根据权利要求1所述的一种测量反射材料反射率与吸收系数的装置，其特征在于：所述的样品室包括的第一样品室与第二样品室，用以盛装厚度不同的第一样品与第二样品；第一样品与第二样品均为同一材料，其为厚度均匀的薄片且厚度已知，薄片面积大于激光光束光斑大小，并且表面平整，质地均匀，没有明显划痕和污损。

5.一种测量反射材料反射率与吸收系数的方法，其特征在于该方法包括下列步骤：

步骤一、将可调谐半导体激光器、激光准直镜和光电转换探头固定在光具座上，其中激光准直镜与光电转换探头之间的距离在1m左右，打开可调谐半导体激光器，通过电流控制系统设置其输出激光波长，调节可调谐半导体激光器、激光准直镜和光电转换探头之间的相对位置，使其准直光束能够从激光准直镜出射，光斑位于光电转换探头光灵敏区域正中心，开启光功率计，记录此时读数I₀；

步骤二、保持可调谐半导体激光器、激光准直镜和光电转换探头位置不变，将第一样品室固定于光电转换探头前方，二者紧密贴合，使第一样品室表面垂直于入射光线，记录下此时光功率计的读数I₁；

步骤三、保持可调谐半导体激光器、激光准直镜和光电转换探头位置不变，取下第一样品室，将第二样品室放置于光电转换探头前方，二者紧密贴合，使样品室表面垂直于入射光线，记录下此时光功率计的读数I₂；

步骤四、将上述步骤所记录的数据输入到计算机终端中，使用反射率与吸收系数求解算法，得到相应待测材料的反射率与吸收系数。