[发明专利]一种内存管理功能的测试方法和系统在审

专利信息
申请号: 201811318574.8 申请日: 2018-11-07
公开(公告)号: CN111159005A 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 刘弋波;张庆 申请(专利权)人: 珠海全志科技股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 齐洁茹
地址: 519085 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 内存 管理 功能 测试 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种内存管理功能的测试系统,包括:处理器、内存和内存管理单元,其特征在于,还包括:测试单元;

所述测试单元,包括:用于存储虚拟地址的第一存储位置、用于存储测试数据的第二存储位置和第三存储位置;

所述测试单元,用于在测试时,基于所述第一存储位置中存储的虚拟地址,访问所述内存管理单元,实现将所述第二存储位置存储的测试数据写入所述内存,或者,将从所述内存中读取的测试数据装载到所述第三存储位置;

所述处理器,用于对所述测试单元写入或读取的测试数据进行校验。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述第一存储位置为:地址寄存器;

所述第二存储位置为:第一数据寄存器;

所述第三存储位置为:第二数据寄存器。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一数据寄存器和第二数据寄存器为同一寄存器。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试单元,还包括:

控制/状态寄存器,用于配置测试的读写属性、以及开始/结束的状态。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述测试单元,还包括:

测试功能控制单元,用于在测试时,基于所述第一存储位置中存储的虚拟地址,访问所述内存管理单元,并根据所述控制/状态寄存器配置的读写属性实现将所述第二存储位置存储的测试数据写入所述内存,或者,将从所述内存中读取的测试数据装载到所述第三存储位置。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述处理器,还用于将测试所用的虚拟地址写入所述第一存储位置;在测试写操作时将待写入所述内存的测试数据写入所述第二存储位置;以及在测试读操作时将测试数据写入所述内存。

7.如权利要求1至6中任意一项所述的方法,其特征在于,所述测试单元,具体用于在测试时,向所述内存管理单元的映射查找表TLB查找所述第一存储位置中存储的虚拟地址对应的页表,并利用所述TLB返回的页表将所述虚拟地址转换为物理地址,根据所述物理地址,将所述第二存储位置存储的测试数据写入所述内存;或者,将从所述内存中读取的测试数据装载到所述第三存储位置。

8.如权利要求1至6中任意一项所述的方法,其特征在于,所述处理器,具体用于:

从所述内存中直接读取数据,将从所述内存中读取的数据与所述测试单元写入所述内存的测试数据进行比较,以对所述测试单元写入的数据进行校验;

或者,将所述处理器直接写入内存的测试数据与所述测试单元从所述内存中读出的测试数据进行比较,以对所述测试单元读出的数据进行校验。

9.一种内存管理功能的测试方法,其特征在于,包括:

在测试时,基于第一存储位置中存储的虚拟地址,访问内存管理单元,实现将第二存储位置中存储的测试数据写入内存,或者,将从所述内存中读取的测试数据装载到第三存储位置;

通过处理器对写入所述内存或从所述内存中读取的测试数据进行校验。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,在测试时,具体包括:

基于所述第一存储位置中存储的虚拟地址,访问所述内存管理单元,并根据配置的读写属性实现将所述第二存储位置存储的测试数据写入所述内存,或者,将从所述内存中读取的测试数据装载到所述第三存储位置。

11.如权利要求9所述的方法,其特征在于,在测试时,具体包括:

向所述内存管理单元的TLB查找所述第一存储位置中存储的虚拟地址对应的页表,并利用所述TLB返回的页表将所述虚拟地址转换为物理地址,根据所述物理地址,将所述第二存储位置存储的测试数据写入所述内存;或者,将从所述内存中读取的测试数据装载到所述第三存储位置。

12.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述通过处理器对写入所述内存或从所述内存中读取的测试数据进行校验,具体包括:

通过处理器从所述内存中直接读取数据,将从所述内存中读取的数据与所述写入所述内存的测试数据进行比较,以对写入内存的测试数据进行校验;

或者,通过处理器将所述处理器直接写入内存的测试数据与所述从内存中读取的测试数据进行比较,以对从内存中读出的测试数据进行校验。

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