[发明专利]储层厚度分布确定方法、系统、设备、可读介质有效

专利信息
申请号: 201811322841.9 申请日: 2018-11-08
公开(公告)号: CN109581498B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 刘雷颂;覃素华;王小善;曹来圣;喻林;乔凤远 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王涛;任默闻
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 厚度 分布 确定 方法 系统 设备 可读 介质
【权利要求书】:

1.一种储层厚度分布确定方法,其特征在于,包括:

对目的层的地震数据进行频谱分析;

根据所述频谱分析获得频谱照明度数据体;

根据所述频谱照明度数据体,确定储层的厚度分布;

所述对目的层的地震数据进行频谱分析,包括:对目的层的地震数据进行频谱分析,获得频谱分析结果和有效频谱范围;

所述根据所述频谱分析获得频谱照明度数据体,包括:

根据所述频谱分析结果,在有效频谱范围内按照预设条件提取获得若干单频体;

对所述若干单频体进行能量谱分析,剔除能量集中的单频体,提取剩余单频体的井点单道能量谱;

确定剔除了能量集中的单频体后剩余的每个单频体与物性指标曲线的相关性程度,剔除相关性程度不符合的单频体;

对剔除相关性程度不符合的单频体后剩余的单频体进行均方根处理,获得频谱照明度数据体。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述频谱照明度数据体,确定储层的厚度分布,包括:

将目的层划分为若干小层,对每个小层提取照明度属性,由此分析目的层由浅至深的储层变化;

对所述照明度数据体进行有效储层三维空间雕刻;

根据物性指标曲线标定,确定物性指标标定的储层在照明度数据体上的门槛值;

提取目的层大于所述门槛值的样品数,根据采样率和所述样品数确定物性指标储层时间厚度分布。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定每个单频体与物性指标曲线的相关性程度,包括:

将所述井点单道能量谱与物性指标曲线进行交会分析,获得相关系数;

根据所述相关系数确定所述相关性程度。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述有效频谱范围为5Hz-70Hz。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在有效频谱范围内按照预设条件提取获得若干单频体,包括:

对目的层的地震数据进行小波变换,将所述地震数据从时间域变换到频率域,求取5Hz-70Hz之间每隔5Hz的单频体。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目的层的地震数据通过对地震资料进行扫描获得,其中,对地震资料进行扫描确定出目的层的范围,该范围内的地震资料为所述目的层的地震数据。

7.一种储层厚度分布确定系统,其特征在于,包括:

处理模块,对目的层的地震数据进行频谱分析;

获取模块,根据所述频谱分析获得频谱照明度数据体;

确定模块,根据所述频谱照明度数据体,确定储层的厚度分布;

所述处理模块对目的层的地震数据进行频谱分析,获得频谱分析结果和有效频谱范围;

所述获取模块包括:

单频体提取单元,根据所述频谱分析结果,在有效频谱范围内按照预设条件提取获得若干单频体;

第一剔除单元,对所述若干单频体进行能量谱分析,剔除能量集中的单频体,提取剩余单频体的井点单道能量谱;

第二剔除单元,确定剔除了能量集中的单频体后剩余的每个单频体与物性指标曲线的相关性程度,剔除相关性程度不符合的单频体;

均方根处理单元,对剔除相关性程度不符合的单频体后剩余的单频体进行均方根处理,获得频谱照明度数据体。

8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述确定模块包括:

划分单元,将目的层划分为若干小层,对每个小层提取照明度属性,由此分析目的层由浅至深的储层变化;

雕刻单元,对所述照明度数据体进行有效储层三维空间雕刻;

标定单元,根据物性指标曲线标定,确定物性指标标定的储层在照明度数据体上的门槛值;

样品数提取单元,提取目的层大于所述门槛值的样品数,根据采样率和所述样品数确定物性指标储层时间厚度分布。

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