[发明专利]一种应用于三维霍尔传感器的霍尔器件及其方法在审

专利信息
申请号: 201811323932.4 申请日: 2018-11-08
公开(公告)号: CN109270476A 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 魏榕山;杜宇轩;刘莉莉 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G01R33/07 分类号: G01R33/07;G01R33/02
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350108 福建省福州市闽*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 霍尔器件 重掺杂 三维 霍尔传感器 十字结构 深N阱 时序 高压CMOS 工艺制备 灵敏度 磁感应 高掺杂 可分时 减小 侦测 应用 对称
【说明书】:

发明涉及一种应用于三维霍尔传感器的霍尔器件,其特征在于:所述霍尔器件为完全对称的两个十字结构的深N阱;所述十字结构的深N阱的四个端和中心分别设置有重掺杂的N+区层,所述四个端点重掺杂的N+区层与中心重掺杂的N+区层之间均设置有高掺杂的P+区层。本发明采用高压CMOS工艺制备,具备了较深的N阱,提高了器件的灵敏度,在时序的控制下,可分时对三个轴向上的磁感应强度进行侦测,相比于分立式的三维霍尔器件,大大减小了版图面积。

技术领域

本发明涉及一种应用于三维霍尔传感器的霍尔器件及其方法。

背景技术

目前,三维霍尔传感器由前端的霍尔器件完成磁电转换功能,结构主要为分立式,包括一组水平霍尔器件和两组垂直霍尔器件。水平霍尔器件主要为十字形结构,用于侦测垂直于芯片表面的磁场,在对称的两端施加偏置电压,将有电流穿过器件,存在磁场时,载流子受到洛伦茨力的影响产生偏移,在其余两端获得霍尔电压。垂直霍尔器件用于侦测平行于芯片表面的磁场,因此需要两组霍尔器件,分别对应于X轴和Y轴磁场的侦测,常用结构有四孔、五孔和六孔结构,结构包括一组偏置电极和一组霍尔电极,电极平行分布于结构表面,但在标准工艺下垂直霍尔器件的阱深浅,灵敏度较低;在这些设计中,存在结构不对称或电流路径不对称的缺点,具有较高的失调电压。此外,分立式的结构增大了霍尔器件在版图中的面积。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种应用于三维霍尔传感器的霍尔器件,可分时对三个轴向上的磁感应强度进行侦测,相比于分立式的三维霍尔器件,大大减小了版图面积。

为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种应用于三维霍尔传感器的霍尔器件,所述霍尔器件为完全对称的两个十字结构的深N阱;所述十字结构的深N阱的四个端和中心分别设置有重掺杂的N+区层,所述四个端点重掺杂的N+区层与中心重掺杂的N+区层之间均设置有高掺杂的P+区层。

进一步的,所述霍尔器件基于硅基板。

进一步的,所述十字结构为两个三孔垂直霍尔器件的叠加构成。

进一步的,所述三孔垂直霍尔器件为在深N阱上设置三个重掺杂的N+区层,N+区之间设置高掺杂的P+区。

进一步的,所述N+区层上设置有接触电极,作为偏置电极或霍尔电极。

进一步的,所述接触电极采用铝材料。

进一步的,根据权利要求1-6任一所述的一种应用于三维霍尔传感器的霍尔器件的制作方法,包括以下步骤:

步骤S1:基于硅基板,采用高压CMOS工艺制备两个十字结构深N阱;

步骤S2:在十字结构的深N阱的四个端和中心分别制备重掺杂的N+区层;

步骤S3:在所述重掺杂的N+区层上方制备对应的接触电极。

步骤S4:所述四个端点重掺杂的N+区层与中心重掺杂的N+区层之间均制备高掺杂的P+区层。

进一步的,一种采用权利要求5或6所述应用于三维霍尔传感器的霍尔器件的测磁方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1:双十结构从左到右N+区层对应的接触电机编号分别为contact1、contact2、...、contact6,接触电极contact1和contact6,contact3和contact4分别用导线连接;

步骤S2:contact1和contact6作为偏置输入电极,contact3和contact4作为偏置输出电极,载流子在流经N阱内部时,由于磁场的存在,受到洛伦茨力的影响发生偏转,聚集于作为霍尔电极的contact2和contact5处,由于两个三孔结构完全对称,contact2和contact5处的电势应相同,侦测磁场时,二者之间出现的势差即为霍尔电压;

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