[发明专利]一种IC芯片测试系统和方法

说明书

本发明公开了一种IC芯片测试系统和方法，用以解决无法快速准确地确定出IC芯片当前进入的测试模式的问题。系统包括：测试机台，时钟模块和控制模块；控制模块分别与时钟模块和测试机台连接；测试机台根据每种测试模式对应的信息，确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的目标信息，发送给控制模块；时钟模块用于计时；控制模块根据目标信息，确定目标测试模式对应的高、低电平的时长；根据高电平的第一时长和低电平的第二时长，时钟模块的计时时间，确定目标脉冲序列；将目标脉冲序列输出给测试机台，不同的测试模式对应的脉冲序列不同；测试机台显示目标脉冲序列，测试人员及时准确地根据目标脉冲序列确定出IC芯片当前进入的测试模式。

技术领域

本发明涉及IC芯片测试技术领域，特别涉及一种IC芯片测试系统和方法。

背景技术

集成电路(Integrated Circuit，IC)芯片可以工作在工作模式和调试模式。为了确定在出厂前，IC芯片是可用的，还可以对IC芯片进行问题调试，以确保IC芯片的可用性。在对IC芯片进行问题调试时，可以使IC芯片工作在测试模式。

IC芯片的测试模式可以分为多种，例如晶圆测试(Chip Probing，CP)模式，功能测试(Functional Test，FT)模式，设计测试(Design For Test，DFT)模式，内装自测试(Built-In Self-Test，BIST)模式等。

在现有技术中，测试人员可以在测试机台上操作IC芯片进入某个测试模式，以进行对应的测试，IC芯片工作在哪个测试模式，测试人员是不可见的。由于测试模式不可见，测试人员往往不能及时知道IC芯片当前正入的测试模式是否为测试人员预想的正在进行的测试模式，测试人员也就不能快速准确地进行问题调试。

如何使测试人员快速准确地确定出IC芯片当前进入的测试模式，是需要解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例公开了一种IC芯片测试系统和方法，用以解决现有技术中测试人员无法快速准确地确定出IC芯片当前进入的测试模式的问题。

为达到上述目的，本发明实施例公开了一种IC芯片测试系统，包括：测试机台，时钟模块和控制模块；所述控制模块分别与所述时钟模块和所述测试机台连接；

所述测试机台，用于根据预先保存的每种测试模式对应的信息，确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的目标信息，并发送给所述控制模块；

所述时钟模块，用于计时；

所述控制模块，用于接收测试机台发送的所述目标信息；根据所述目标信息，确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的高电平的第一时长和低电平的第二时长；根据所述高电平的第一时长和所述低电平的第二时长，以及所述时钟模块的计时时间，确定目标脉冲序列；将所述目标脉冲序列输出给所述测试机台，其中，不同的测试模式对应的脉冲序列不同；

所述测试机台，还用于显示所述目标脉冲序列。

进一步地，所述测试机台，具体用于根据预先保存的每种测试模式对应的高电平的时长和低电平的时长，确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的高电平的目标时长和低电平的目标时长，并发送给所述控制模块；

所述控制模块，具体用于将接收到的测试机台发送的IC芯片当前进入的目标测试模式对应的高电平的目标时长和低电平的目标时长，确定为高电平的第一时长和低电平的第二时长。

进一步地，所述时钟模块包括：脉冲时钟产生单元；

脉冲时钟产生单元，用于产生第一脉冲时钟信号；

所述测试机台，具体用于根据预先保存的每种测试模式、高电平对应的时钟周期的第一数量和低电平对应的时钟周期的第二数量的对应关系，确定IC芯片当前进入的所述目标测试模式对应的高电平对应的第一目标数量和低电平对应的第二目标数量，并发送给所述控制模块；