[发明专利]一种等直径杆同轴校准装置

权利要求书

1.一种等直径杆同轴校准装置，它包括校准基座、校准工位和弹性校准托盘总成，所述弹性校准托盘总成包括水平弹性校准托盘总成（3）与竖直弹性校准托盘总成（19），其特征在于：所述校准基座包括水平校准基座（1）和竖直校准基座（2），竖直校准基座（2）竖直向上设置于水平校准基座（1）上方的一侧，水平校准基座（1）上沿校准基座的长度方向设置有通槽（4），通槽（4）上部的开口位置处设置有内侧校准耳座（20）和外侧校准耳座（18），内侧校准耳座（20）和外侧校准耳座（18）相对设置，所述水平弹性校准托盘总成（3）设置于通槽（4）的底部，水平弹性校准托盘总成（3）的底面与通槽（4）的底面之间通过弹簧连接；

所述校准基座上沿通槽（4）的轴线方向布置有至少两个校准工位，所述校准工位包括校准支架（8）、基准校验尺（7）和校准螺栓，所述校准螺栓包括第一校准螺栓（11）、第二校准螺栓（14）和第三校准螺栓（16），校准支架（8）竖直向上设置于所述水平弹性校准托盘总成（3）的上方，每一所述校准工位包括两个同轴设置的校准支架（8），两个校准支架（8）设置于校准工位的首尾两端，校准支架（8）的上部设置有用于安装等直径杆的通孔（9），通孔（9）的轴线方向与通槽（4）的轴线方向相互平行，在校准支架（8）的侧壁上并位于通孔（9）的下方设置有十字形划痕（10），在所述竖直校准基座（2）上与每一校准支架（8）位置对应处均设置有基准校验尺（7）导孔（5），基准校验尺（7）的一端贯穿基准校验尺（7）导孔（5）延伸至通槽（4）的上方，基准校验尺（7）的另一端延伸至竖直校准基座（2）的外部，基准校验尺（7）的外端部上设置有基准校验尺（7）固紧螺母（6），基准校验尺（7）固紧螺母（6）与竖直校准基座（2）的侧壁固定连接，基准校验尺（7）上设置有刻度；所述外侧校准耳座（18）上沿竖直方向设置有第一校准螺栓导孔（13），外侧校准耳座（18）上沿水平方向设置有第三校准螺栓导孔（17），第一校准螺栓导孔（13）的轴线与第三校准螺栓导孔（17）的轴线异面垂直，所述内侧校准耳座（20）上沿竖直方向设置有第二校准螺栓导孔（15），第二校准螺栓导孔（15）与第一校准螺栓导孔（13）关于通槽（4）的轴线方向对称设置，第一校准螺栓导孔（13）、第二校准螺栓导孔（15）和第三校准螺栓导孔（17）的外侧面上均固定安装有与对应的导孔直径相同的校准螺母（12），所述第一校准螺栓（11）竖直向下安装于第一校准螺栓导孔（13）中，第二校准螺栓（14）竖直向下安装于第二校准螺栓导孔（15）中，第一校准螺栓（11）与第二校准螺栓（14）的端部压紧水平弹性校准托盘总成（3），第三校准螺栓（16）水平向后安装于第三校准螺栓导孔（17）中，第三校准螺栓（16）的端部压紧校准支架（8）的前侧壁，所述竖直弹性校准托盘总成（19）亦通过弹簧水平向前设置于每一校准支架（8）对应的内侧校准耳座（20）的前表面上，竖直弹性校准托盘总成（19）的前端面压紧校准支架（8）的后侧壁。

2.根据权利要求1所述的一种等直径杆同轴校准装置，其特征在于：所述校准基座设置为L字形，水平校准基座（1）和竖直校准基座（2）一体成型。

3.根据权利要求1所述的一种等直径杆同轴校准装置，其特征在于：所述第三校准螺栓（16）的轴线所在竖直面与基准校验尺（7）导孔（5）的轴线所在竖直面之间的距离为：第三校准螺栓（16）的公称直径与基准校验尺（7）导孔（5）直径之和的2倍。

4.根据权利要求1所述的一种等直径杆同轴校准装置，其特征在于：所述水平弹性校准托盘总成（3）的底面与通槽（4）的底面之间均布有六根弹簧，所述竖直弹 性校准托盘总成与内侧校准耳座（20）的后端面与内侧校准耳座（20）的前表面之间均布有四根弹簧。

5.根据权利要求1所述的一种等直径杆同轴校准装置，其特征在于：所述十字形划痕（10）与通孔（9）侧壁之间的距离等于通孔（9）直径的长度。

6.根据权利要求1所述的一种等直径杆同轴校准装置，其特征在于：所述基准校验尺（7）设置为圆柱体，基准校验尺（7）靠近竖直校准基座（2）一侧的侧壁上设置有螺纹，刻度设置于基准校验尺（7）的中部并延伸至靠近校准支架（8）一侧，并且零刻度线设置于基准校验尺（7）的中部一侧。

7.根据权利要求1或6所述的一种等直径杆同轴校准装置，其特征在于：所述刻度的精度为1mm。