[发明专利]一种畸变图像的矫正方法及装置

权利要求书

1.一种畸变图像的矫正方法，其特征在于，包括：

101，获取基准图像和检测图像；

102，比对基准图像和检测图像，获取检测图像的畸变程度，并根据所述畸变程度计算矫正像素块的尺寸；

103，根据所述矫正像素块的尺寸将检测图像划分为多个矫正像素块，遍历每一个矫正像素块，计算每个矫正像素块在基准图像中对应的实际宽度；

104，根据各个矫正像素块在基准图像中对应的实际宽度，缩放各个矫正像素块，并将缩放后的矫正像素块拼接，获得矫正后的图像；

其中，步骤102中，所述比对基准图像和检测图像，获取检测图像的畸变程度具体包括：

201，以基准图像左上角为原点，分别以平行于基准图像横边和纵边的方向向右向下为x轴和y轴，建立二维坐标系；

202，分别获取基准图像的线像素以及检测图像的线像素；

203，将基准图像的线像素上的每个像素值都转化成一个与其坐标位置有关的特征向量；获取基准图像线像素的特征向量集合F；

204，将检测图像划分为n个像素块；其中n＝[width/a]，width为图像的宽度，a为像素块的宽度，[]代表取整；获取像素块的线像素左右边界上的坐标l，r的特征向量并将分别作为所述像素块的左右边界的特征向量；

205，分别计算和与特征向量集合F中所有元素的欧式距离，分别获得与F中所有元素的相似度集合A，以及与F中所有元素的相似度集合B；

206，对A和B中的元素进行排序，获取集合A的最小元素和集合B的最小元素，分别作为像素块的线像素左右边界上的坐标l，r在基准图像中的实际坐标值；

207，根据像素块的线像素左右边界上的坐标l，r在基准图像中的实际坐标值，计算检测图像的畸变程度。

2.根据权利要求1所述的畸变图像的矫正方法，其特征在于，步骤207中，所述根据像素块的线像素左右边界上的坐标l，r在基准图像中的实际坐标值，计算检测图像的畸变程度具体包括：

计算所述像素块在基准图像中的实际宽度real_width：

real_width＝|rB-lA|

其中，lA、rB分别为l，r在基准图像中的实际坐标值；

计算所述像素块矫正后的宽度差值Δ：

Δ＝|a-real_width|，其中a为矫正块的宽度；

依次计算每一个像素块矫正后的宽度差值，获取差值集合D；

D＝{Δ_n|0＜n＜[width/a]}

将所述差值集合D的平均值作为检测图像的畸变程度

3.根据权利要求2所述的畸变图像的矫正方法，其特征在于，步骤102中，根据所述畸变程度计算矫正像素块的尺寸具体包括：

矫正像素块的尺寸

4.根据权利要求3所述的畸变图像的矫正方法，其特征在于，步骤103中，根据所述矫正像素块的尺寸将检测图像划分为多个矫正像素块具体包括：

将检测图像的宽度除以矫正像素块的尺寸，得到检测图像划分后的矫正像素块的个数。

5.根据权利要求4所述的畸变图像的矫正方法，其特征在于，步骤103中，所述遍历每一个矫正像素块，计算每个矫正像素块在基准图像中对应的实际宽度具体包括：

获取矫正像素块的线像素左右边界上的坐标l’，r’的特征向量并将分别作为所述矫正像素块的左右边界的特征向量；

分别计算和与基准图像线像素的特征向量集合F中所有元素的欧式距离，分别获得与F中所有元素的相似度集合A’以及与F中所有元素的相似度集合B’；

对A’和B’中的元素进行排序，获取集合A’的最小元素和集合B’的最小元素，分别作为矫正像素块的线像素左右边界上的坐标l’，r’在基准图像中的实际坐标值；

计算矫正像素块在基准图像中对应的实际宽度为|rB’-lA’|；其中，lA’、rB’分别为l’，r’在基准图像中的实际坐标值。