[发明专利]一种荧光免疫试条定量检测测试信号温度矫正方法

权利要求书

1.一种荧光定量检测测试信号温度矫正方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

(1)提供数据：

提供一荧光定量检测数值数据以及温度数据；

(2)温度校正：

对(1)中的定量检测数据进行温度校正；包括下列子步骤：

(a)确定理想矫正模型，其中确定的理想矫正模型为：

y＝g(T)×f(x)+h(T) (B)

式中x表示原测量值，y表示矫正后的测量值，为矫正函数的输出结果，其中g为系数函数，h为截距函数，f为测量值转换函数，

(b)确定矫正指标，其中所述矫正指标为能够描述测量值的离散程度的物理量；

(c)确定矫正目标，其中利用假想的温度或标准温度T₀下建立的模型，以各个不同温度点下单一待分析物水平测量值的均值作为假想温度T₀下的矫正目标；

(d)确定矫正特征值，其中根据测量的特征值，分析温度对特征值的复杂度影响，进而根据数学模型建立的可行性确定所述矫正特征值；

(e)设计矫正数学模型，其中根据(a)所述的理想矫正模型确定对(d)所述的矫正特征值的矫正数学模型，确定温度矫正的所述矫正数学模型为：

y＝(a_nTⁿ+…+a₁T+a₀)×x+(b_nTⁿ+…+b₁T+b₀) (C)

式中，x为原测量值，y为矫正测量值，T为温度，a_i，b_i(i＝0...n)为多项式拟合参数；

(f)初步确定矫正参数，得到初步矫正参数，其中所述子步骤(f)包括以下参数拟合步骤：首先选择同一温度下的不同浓度的测量值为自变量，以(c)所述的矫正目标为因变量，根据(e)所述的矫正数学模型为基础，进行直线拟合，得到不同温度下的测量值与矫正目标的拟合直线的斜率k，与截距b，然后取温度为自变量，拟合直线的斜率k与截距b分别为因变量，进行多项式拟合；

(3)矫正效果判定；

利用(f)得到的初步矫正参数代入到(e)所设计的矫正数学模型，得到一个初步的矫正方程1，根据(b)确定的矫正指标对初步校正结果进行矫正效果判定，根据判断结果进行流程控制；

当矫正效果判定不达标时，进行(4)校正参数修正步骤，所述校正参数修正步骤中，利用(c)对得到的矫正方程1进行参数修正，将修正结果即矫正特征值(d)通过下式中矫正数学模型(e)添加到矫正方程1中完成参数修正：

y＝g(T)x+h(T)+t(T) (A)

式中g(T)为系数函数，h(T)为截距函数，t(T)为修正函数，通过不断的缩小矫正的范围一定程度上自适应的得到准确的矫正方程2；

当矫正效果判定达标时，则不进行(4)校正参数修正步骤；

(5)输出矫正方程；

当矫正效果判定达标时，将矫正方程1输出给测量系统，当矫正效果判定不达标时，将矫正方程2输出给测量系统，使得系统能够根据测量的温度信息完成对测量值的矫正。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述矫正方程2为经过一次或多次(3)矫正效果判定和/或一次或多次(4)矫正参数修正得到最终的参数矫正方程2。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述荧光定量检测为荧光免疫试条定量检测。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，最终确定，以实际测量的原信号值x＝400时为函数分界点，其中g(T)+h(T)为二次函数，f(x)为一次函数。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，在x≤400与x＞400时分别使用不同的参数进行校正。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，在x≤400时，使用低值校正函数y₁＝g(T)×f(x)+h(T)进行校正；在x＞400时，使用高值校正函数y₂＝g(T)×f(x)+h(T)进行校正。