[发明专利]基于光幕的放射治疗用多元限束装置机械性能测试方法

权利要求书

1.一种基于光幕的放射治疗用多元限束装置机械性能试验方法，其特征在于该方法包括以下步骤：

(1)搭建一个多元限束装置的测试装置，该测试装置包括：多叶光栅、平行光源发射器、光敏接收器、连接机构和数据传输设备；所述的多叶光栅包括驱动装置、叶片导向框和叶片，平行光源发射器和光敏接收器通过连接机构同轴安装；驱动装置和叶片导向框同轴安装，驱动装置和叶片导向框的安装轴与平行光源发射器和光敏接收器的安装轴相互垂直，待测试叶片从叶片导向框推出后处于平行光源发射器和光敏接收器中间的平行光幕中；数据传输设备固定在光敏接收器上；

(2)设光敏接收器的采样周期为T，设采样初始时刻平行光宽度为D(0)，采样结束时刻平行光宽度记为D(nT),其中n为采样周期数，得到第k个采样周期的平行光宽度为D(kT)；

(3)驱动装置向多元限束装置发送位置阶跃信号、位置斜坡信号或重复位置阶跃信号，使多元限束装置中的待测试叶片按照以下三种模式中的一种运动：

第一种模式为：

驱动装置向多元限束装置发送位置阶跃信号，使多元限束装置中的待测试叶片移动位移P，待测试叶片遮挡平行光幕的一部分，光敏接收器接收并记录当前采样时刻kT和平行光宽度D(kT)，并根据当前采样时刻kT和平行光宽度D(kT)，

利用下式，计算得到多元限束装置的定位精度P_a：

P_a＝P-(D(nT)-D(0))；

并利用下式，计算得到多元限束装置的每一时刻的速度S(kT)：

多元限束装置的最大速度S_max为速度的最大值：

S_max＝max(S(kT))

第二种模式为：

驱动装置向多元限束装置发送位置斜坡信号，控制多元限束装置中的待测试叶片连续移动，记连续移动中位移与时间的关系为vt,其中v为位移与时间的比例，t为待测试叶片运动的时间，收并记录当前采样时刻kT和平行光宽度D(kT)，

通过下式，计算得到多元限束装置的跟踪精度T_a：

并利用下式，计算得到多元限束装置的每一时刻的速度S(kT)：

以及多元限束装置的最大速度S_max：

S_max＝max(S(kT))

其中n为采样周期数；

第三种模式为：

驱动装置向多元限束装置发送重复位置阶跃信号，控制多元限束装置的待测试叶片移动位移P，返回原来位置，重复移动位移P共m次，待测试叶片遮挡平行光幕的一部分，光敏接收器接收并记录采样时刻和平行光宽度，利用第一种模式的计算方法，得到与第i次阶跃信号相对应的定位精度P_a(i)，根据与每次阶跃信号相对应的定位精度P_a(i)，利用下式计算得到多元限束装置的重复定位精度R_a：