[发明专利]电子元件稳定装置及其适用的外观检测设备

说明书

本发明提供一种电子元件稳定装置及其适用的外观检测设备。外观检测设备的旋转盘承载由下料轨道落下的电子元件并使其沿材料行走线移动。电子元件稳定装置包含导料轮，设置于材料行走线的外侧且具有圆弧面；马达，与导料轮连接以驱动导料轮的旋转；及负压产生器，设置于导料轮的底部，可产生吸力使得自下料轨道落下的电子元件被吸往导料轮而贴附于导料轮的圆弧面，并随导料轮的旋转往前推送。导料轮的线速度与电子元件在旋转盘上的行走线速度相同，当电子元件不再受负压产生器的吸力吸引而脱离导料轮时，电子元件可稳定地于旋转盘上沿着材料行走线前进。

技术领域

本发明涉及一种电子元件稳定装置，特别涉及一种适用于外观检测设备的电子元件稳定装置。

背景技术

现有的电子元件外观检测设备一般是通过震动盘将电子元件整列后，排列至一旋转盘上，旋转盘将电子元件输送至镜头前取像以供检测外观，再通过一集料装置依据检测结果分类收集。

图1显示现有外观检测设备的输送机制示意图，图2显示图1落料处的局部剖面图。如图1及图2所示，现有外观检测设备包含供料装置11、下料轨道12、低震动块13、玻璃圆盘14及导料块15。供料装置11将电子元件10经下料轨道12送出，且下料轨道12底部设置有低震动块13，是由固定螺丝131锁固于下料轨道12下方，提供承接电子元件10由下料轨道12落于玻璃圆盘14的桥梁。当电子元件10由下料轨道12震动前进落到低震动块13后，低震动块13上的电子元件10经由后方推挤前进掉落到旋转的玻璃圆盘14上，玻璃圆盘14承接落下的电子元件10，且玻璃圆盘14的线速度大于下料轨道12送料的速度，使电子元件10落至玻璃圆盘14上后，可拉开彼此间距，以利后端的镜头取像进行外观检测，最后再将电子元件10收集至集料装置16中。

由于玻璃圆盘14旋转的速度大于下料轨道12送料的速度，使得电子元件10落于玻璃圆盘14上容易有落料歪斜不稳定的问题，故玻璃圆盘14上方另设置有导料块15，其是固设于落料处附近且具有弧面，通过玻璃圆盘14的旋转，电子元件10边缘碰触到导料块14的弧面，进而使电子元件10导正于一切线方向上。

此现有技术对于玻璃圆盘14在低转速(5rpm以下)产能的外观检测设备而言，可以克服材料歪斜不稳定问题，但当玻璃圆盘14的转速大于目前产能转速二倍以上时，材料歪斜不稳定问题即无法克服，且歪斜比例会随转速增加而升高。

此外，现有技术为了将电子元件10吸附在玻璃圆盘14以利输送，会使玻璃圆盘14带电，以使电子元件10通过静电吸附力吸附在玻璃圆盘14。然而无论是通过静电刷、电离器或导电板等装置来提供静电，皆会使得设备成本提高，且操作人员也可能被静电电到而有安全性的问题。此外，静电提供装置也容易沾黏灰尘，从而增加清洁的难度。

因此，为了改善现有技术的缺陷，有必要提供一种电子元件稳定装置，以克服落料歪斜不稳定的问题，进而提升外观检测设备的产能。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电子元件稳定装置及其适用的外观检测设备，其是架构于提升落料稳定度，克服现有技术落料歪斜不稳定的问题，进而提升外观检测设备的产能。

本发明的另一目的在于提供一种电子元件稳定装置及其适用的外观检测设备，可通过落料稳定度的提升而免除静电提供装置的配置，故可降低设备成本、增加操作人员的安全性、及避免静电提供装置的清洁问题。