[发明专利]X射线测量装置有效

专利信息
申请号: 201811334347.4 申请日: 2018-11-09
公开(公告)号: CN109946329B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 三好寿顕;藤原健;加藤英俊;铃木良一 申请(专利权)人: 夏普株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所
主分类号: G01N23/203 分类号: G01N23/203;G01N23/04
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 汪飞亚;习冬梅
地址: 日本国大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种X射线测量装置,其特征在于,具备:

X射线照射部,其对测量对象照射X射线;

X射线检测部,其检测与在上述测量对象上反射的后方散射X射线对应的电信号;

测量部,其参照由上述X射线检测部检测出的电信号来测量上述测量对象;

开口部,其使上述后方散射X射线通过,并形成有使上述后方散射X射线在上述X射线检测部上成像的开口;以及

过滤器,配置于上述后方散射X射线的行进方向的相对于上述开口部的上游侧以及下游侧的每一个,使规定的能源量的X射线透射,上述过滤器沿着上述后方散射X射线的直线路径配置。

2.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于,上述X射线检测部具备:

保持部,其包含氧化物半导体,并保持与上述后方散射X射线对应的电信号;以及

传送部,其包含氧化物半导体,并将保持于上述保持部的上述电信号向上述测量部传送。

3.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于:

上述X射线检测部的检测面的中心配置于相对于从上述X射线照射部照射的X射线的中心线的角度为150°至180°的范围内的位置。

4.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于:

具备多个上述X射线检测部,具备立体图像生成部,其根据上述多个X射线检测部的检测结果生成立体图像。

5.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于:

具备多个上述X射线检测部,

具备多个上述开口部,其与上述多个X射线检测部的每一个对应地设置,并分别形成有开口直径不同的开口。

6.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于,具备:

透射X射线检测部,其检测透射了上述测量对象的透射X射线。

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