[发明专利]X射线测量装置有效
申请号: | 201811334347.4 | 申请日: | 2018-11-09 |
公开(公告)号: | CN109946329B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 三好寿顕;藤原健;加藤英俊;铃木良一 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
主分类号: | G01N23/203 | 分类号: | G01N23/203;G01N23/04 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 汪飞亚;习冬梅 |
地址: | 日本国大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 测量 装置 | ||
1.一种X射线测量装置,其特征在于,具备:
X射线照射部,其对测量对象照射X射线;
X射线检测部,其检测与在上述测量对象上反射的后方散射X射线对应的电信号;
测量部,其参照由上述X射线检测部检测出的电信号来测量上述测量对象;
开口部,其使上述后方散射X射线通过,并形成有使上述后方散射X射线在上述X射线检测部上成像的开口;以及
过滤器,配置于上述后方散射X射线的行进方向的相对于上述开口部的上游侧以及下游侧的每一个,使规定的能源量的X射线透射,上述过滤器沿着上述后方散射X射线的直线路径配置。
2.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于,上述X射线检测部具备:
保持部,其包含氧化物半导体,并保持与上述后方散射X射线对应的电信号;以及
传送部,其包含氧化物半导体,并将保持于上述保持部的上述电信号向上述测量部传送。
3.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于:
上述X射线检测部的检测面的中心配置于相对于从上述X射线照射部照射的X射线的中心线的角度为150°至180°的范围内的位置。
4.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于:
具备多个上述X射线检测部,具备立体图像生成部,其根据上述多个X射线检测部的检测结果生成立体图像。
5.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于:
具备多个上述X射线检测部,
具备多个上述开口部,其与上述多个X射线检测部的每一个对应地设置,并分别形成有开口直径不同的开口。
6.根据权利要求1所述的X射线测量装置,其特征在于,具备:
透射X射线检测部,其检测透射了上述测量对象的透射X射线。
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