[发明专利]损坏模式确定方法及装置、电子设备、存储介质

权利要求书

1.一种损坏模式确定方法，其特征在于，包括：

对目标芯片中的目标阵列进行划分得到多个预设图，所述目标芯片中包括多个失效位元；所述目标芯片指的是经过芯片测试后确定存在多个失效位元的芯片；

通过深度学习模型对所述多个预设图进行分类，确定各所述预设图的类别；

确定目标类别对应的预设图中由所述失效位元组成的潜在损坏模式的组合，并在所述潜在损坏模式的组合满足预设条件时确定所述目标阵列的目标损坏模式；所述潜在损坏模式指的是任何由多个失效位元所组成的组合。

2.根据权利要求1所述的损坏模式确定方法，其特征在于，所述深度学习模型包括卷积神经网络模型。

3.根据权利要求1所述的损坏模式确定方法，其特征在于，所述预设图的类别包括全缺陷、群聚现象、特殊错误以及随机性中的一种或多种。

4.根据权利要求1所述的损坏模式确定方法，其特征在于，确定目标类别对应的预设图中由所述失效位元组成的潜在损坏模式的组合，并在所述潜在损坏模式的组合满足预设条件时确定所述目标阵列的目标损坏模式包括：

根据所述预设图中由当前数量的失效位元组成的潜在损坏模式的组合确定显著损坏模式的组合，并将所述显著损坏模式的组合作为参考损坏模式的组合；

对所述参考损坏模式的组合以及每个失效位元进行联合统计得到统计后的潜在损坏模式，并在统计后的潜在损坏模式的组合满足所述预设条件时确定所述目标阵列的目标损坏模式。

5.根据权利要求4所述的损坏模式确定方法，其特征在于，根据所述预设图中由当前数量的失效位元组成的潜在损坏模式的组合确定显著损坏模式的组合包括：

确定各所述预设图中由当前数量的失效位元组成的潜在损坏模式的组合；

对所有预设图中由当前数量的失效位元组成的潜在损坏模式的组合的数量进行统计，将所述数量大于第一预设值的组合确定为显著损坏模式的组合。

6.根据权利要求4所述的损坏模式确定方法，其特征在于，对所述参考损坏模式的组合以及每个失效位元进行联合统计，并在统计后的潜在损坏模式的组合满足所述预设条件时确定所述目标阵列的目标损坏模式包括：

将各所述预设图中的所述参考损坏模式的组合与每个失效位元进行匹配，得到由下一数量的失效位元组成的潜在损坏模式的组合；

对所有预设图中由下一数量的失效位元组成的潜在损坏模式的组合的数量进行统计，将所述数量大于第一预设值的组合确定为由下一数量的失效位元组成的显著损坏模式的组合；

将由下一数量的失效位元组成的显著损坏模式的组合重新作为参考损坏模式的组合，并将重新确定的参考损坏模式的组合与每个失效位元进行匹配，直至得到的显著损坏模式的组合的数量满足第二预设值为止，以确定所述目标阵列的所述目标损坏模式。

7.根据权利要求5或6所述的损坏模式确定方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所有显著损坏模式的组合确定为所述目标阵列的所述目标损坏模式。

8.根据权利要求7所述的损坏模式确定方法，其特征在于，所述方法还包括：

统计所述目标损坏模式中每种显著损坏模式的组合的数量，并按照每种显著损坏模式的组合的数量判断所述目标损坏模式是否为非单一模式；

若所述目标损坏模式为非单一模式，则确定每种显著损坏模式的组合的类别。

9.根据权利要求8所述的损坏模式确定方法，其特征在于，每种显著损坏模式的组合的类别包括群集现象或特殊错误。