[发明专利]一种OLED器件光电及量子效率测试系统

说明书

本发明涉及一种OLED器件光电及量子效率测试系统，包括测试平台、夹具、积分半球、光学传导组件和辐射照度测试设备，夹具和积分半球分别设置于测试平台的两侧面上；积分半球上部平面中央和底部半球顶点开有测试孔光学传导组件包括光纤、镜筒和光学反光镜，镜筒设置在积分半球底部顶点测试孔和辐射照度测试设备顶部之间，光学反光镜设置在镜筒的侧壁上，可向镜筒内打开。本发明将光电测试和量子效率测试设备进行了整合，重新设计了测试光路，实现了光电测试与量子效率测试结合；采用夹具和垂直光路，摒弃了暗室柜等严苛的测试条件，提高了适用性。

技术领域

本发明涉及光电器件测量技术领域，具体涉及一种OLED器件光电及 量子效率测试系统。

背景技术

有机发光二极管(Organiclight-EmittingDiode，OLED)是近年来发 展最为迅速的薄膜显示技术。自1979年美国柯达公司率先发表以来，已 经历了40年的发展。作为OLED技术的载体，OLED器件性能是衡量OLED 器件构建原理、材料组合和制备工艺的最为直接和有效的方法。其中，器 件的光电性能测试和量子效率测试一直以来都是器件测试中最为关键的项 目，对于评价OLED器件功能层的搭配组合、器件中有机材料的性能、器 件中发光材料的颜色和效率等指标都具有重要的意义。

随着OLED技术的发展，OLED光电测试和量子效率测试的测试设备和 测试方法均形成了独立且完善的测试体系。其中，光电测试系统一般包含 恒压恒流源、辐射照度计和夹具，需在暗室条件下使用；量子效率测试系 统一般包含恒压恒流源、积分球、光谱仪和夹具，可在光照条件下使用。 可见，两套系统虽然存在一定的通用设备，但由于测试光路和测试条件的 区别，目前整合度最高的方式为共用夹具和恒压恒流源，因此，两种测试 需要在人工切换系统的情况下进行单点测试，对于大规模标准化测试来 说，无疑造成了时间的浪费和人力成本的增加。

发明内容

针对现有技术中的以上不足，本发明提供了一种OLED器件光电及量 子效率测试系统，通过改变现有设备的测试光路，将光电测试系统与量子 效率测试系统进行了有效的整合，减小了设备的体积，提高了单次测试的 样品数量，实现了样品自动测试，节约了人力成本。

为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种OLED器件光电及量子效率测试系统，包括：测试平台、夹具、积分半球、光学传导组件和辐射照度测试设备，所述夹具和积分半球分别设置于所述测试平台的两侧面上，所述夹具用于夹持测试OLED器件；所述积分半球采用半球平面向上的方式设置，上部平面中央和底部半球顶点开有测试孔；在所述测试平台中心设有一通孔，所述通孔与所述积分半球上部平面中央测试孔相对应；所述光学传导组件包括光纤、镜筒和光学反光镜，用于光信号的传导；所述辐射照度测试设备设置在所述积分半球下方，用于光信号的采集；所述镜筒设置在所述积分半球底部顶点测试孔和所述辐射照度测试设备顶部之间，所述光学反光镜设置在所述镜筒的侧壁上，可向所述镜筒内打开，形成45°夹角，用于控制光路的传导。

当所述光学反光镜处于打开状态时，通过所述光纤向所述辐射照度测 试设备传递的光电测试光路打开，可进行光电测试；当所述光学反光镜处 于关闭状态时，通过所述光纤向所述辐射照度测试设备传递的光路关闭， 通过所述积分半球上测试孔的主光路导通，可进行量子效率测试。

所述测试系统还包括用于带动所述夹具旋转的旋转机构、用于带动所 述夹具沿径向移动的推送机构和用于测试电压/电流的提供，综合光、电 信息并进行数据处理的控制系统；所述旋转机构和推送机构设置在所述测 试平台上；所述推送机构包括传递夹、传递槽和龙门导轨。

所述控制系统包括恒压恒流输出源、计算机和触控屏，所述恒压恒流 源与所述夹具电性连接，用于提供稳定输出电压、电流并且将输出信号实 时传递至所述计算机上的控制软件，所述计算机上的控制软件用于提供触 控交互、测试参数设置以及机械运动控制，并能够对测试数据进行运算和 分析；所述触控屏用于控制界面的显示和控制/采集测试参数的设定与查 看。