[发明专利]异物检测方法、装置及存储介质

说明书

本发明公开了一种异物检测方法、装置及存储介质，该异物检测方法包括分别获取对应于同一待测体的第一探测信号和第二探测信号；根据第一探测信号分析得到第一类检测结果，根据第二探测信号分析得到第二类检测结果；将第一类检测结果与第二类检测结果进行匹配，根据匹配结果得到对待测体进行异物探测的最终检测结果；其中，第一探测信号和第二探测信号的频段互不相同。通过上述方法令频段互不相同的第一探测信号和第二探测信号之间可以相互对彼此的检测不足之处进行补种和修正，进而使得结合第一类检测结果和第二类检测结果后得到的最终检测结果中异物的检测精度更高。

技术领域

本发明涉及安检检测技术领域，具体而言涉及异物检测方法、装置及存储介质。

背景技术

在电磁波谱中，毫米波以及太赫兹波的波长介于红外与微波之间。毫米波以及太赫兹波成像具有对目标的形状结构敏感、区别金属目标和背景环境的能力强，图像分辨率高等，具有较强的目标识别和探测能力，由此，毫米波以及太赫兹波被广泛应用在无损检测和安检领域。

但实际检测过程中，基于毫米波以及太赫兹波的探测性能，毫米波以及太赫兹波的探测结果常常会受到人体身上的汗液、衣物上的褶皱等情况的影响，而影响毫米波以及太赫兹波探测结果；此外，对于雨雪天气，人体或物品上的水迹也会影响毫米波以及太赫兹波成像而影响探测结果，导致毫米波或太赫兹波探测设备的探测准确度受到影响。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种异物检测方法、装置及存储介质，本发明的异物检测方法能够提高检测设备对于异物的检测精确度。

本发明提供一种异物检测方法，所述异物检测方法包括：

分别获取对应于同一待测体的第一探测信号和第二探测信号；

根据所述第一探测信号分析得到第一类检测结果，根据所述第二探测信号分析得到第二类检测结果；

将所述第一类检测结果与所述第二类检测结果进行匹配，根据匹配结果得到对所述待测体进行异物探测的最终检测结果；

其中，所述第一探测信号和所述第二探测信号的频段互不相同。

在一实施方式中，所述将所述第一类检测结果与所述第二类检测结果进行匹配，根据匹配结果得到对所述待测体进行异物探测的最终检测结果，包括：

获取所述第一类检测结果中标记的第一检测异物；并获取所述第二类检测结果中标记的第二检测异物；

将所述第一检测异物和所述第二检测异物中标记相同的检测异物作为对所述待测体进行异物探测的最终检测结果。

在一实施方式中，所述根据所述第一探测信号分析得到第一类检测结果，根据所述第二探测信号分析得到第二类检测结果，包括：

根据所述第一探测信号得到相应的第一类初步检测结果，将所述第一类初步检测结果中异物识别概率高于第一探测阈值的检测结果作为所述第一类检测结果；

根据所述第二探测信号得到相应的第二类初步检测结果，将所述第二类初步检测结果中异物识别概率高于第二探测阈值的检测结果作为所述第二类检测结果。

在一实施方式中，所述第一探测阈值的数值与所述第一探测信号的频率呈反比；所述第二探测阈值的数值与所述第二探测信号的频率呈反比。

在一实施方式中，所述将所述第一检测异物和所述第二检测异物中标记相同的检测异物作为对所述待测体进行异物探测的最终检测结果之后，还包括：

在根据所述第一探测信号和/或所述第二探测信号形成的探测图像中标记出将所述最终检测结果。

在一实施方式中，所述第一探测信号为由所述待测体反射回的毫米波信号或太赫兹信号。