[发明专利]一种GPU测试验证板

说明书

本发明公开了一种GPU测试验证板，包括验证板，所述的验证板包括布线层，所述的布线层为双层线路板，所述的布线层一面连接SMP连接器，所述布线层另一面连接GPU连接器；SMP连接器为射频连接的接口，用来连接示波器线缆，然后将信号传输到示波器。GPU连接器配合待测板上的待测板GPU接口，一般情况下待测板GPU接口为母头，GPU连接器为公头，在测试的时候接插配合。可实现待测板卡GPU链路信号的引出，进而实现与示波器的稳定连接，实现GPU NVlink链路信号完整性测试。两个布线层以及避免走线平行的布线方式，保证了信号不会相互干扰，增加了测试准确性。

技术领域

本发明涉及GPU测试领域，具体地说是一种增加GPU测试方便程度的验证板。

背景技术

随着信息化社会的飞速发展，互联网、云计算、大数据分析、深度学习等新技术的不断涌现，人们对计算机信息处理能力的要求越来越高，高性能计算也不仅应用在石油勘探、航天国防、天气预报等传统领域，在互联网、金融、政府信息化、教育等领域对高性能计算的需求也飞速增长。GPU在高性能计算领域的使用越来越多，与CPU相比，GPU具有更强大的计算能力，任务处理模式更为简单，逐渐应用于高性能计算的各领域，助力行业快速发展。但是GPU间的NVlink(是英伟达(NVIDIA)开发并推出的一种总线及其通信协议。NVLink采用点对点结构、串列传输，用于中央处理器(CPU)与图形处理器(GPU)之间的连接，也可用于多个图形处理器之间的相互连接。)信号速率高达12.89G，实现其测试也是我们需要面临的问题。而NVlink信号分为：NVlink链路TX信号(输出信号)和NVlink链路RX信号(输入信号)。

目前测试GPU链路信号测试、阻抗测试及损耗测试时均采用探头点测的方式。信号测试与阻抗测试只有部分可在板上挖点测试。而损耗测试只能选择光板进行测试。损耗测试使用探头点测的话会引入探头影响与接触点接触力影响，测试结果偏差较大。

发明内容

本发明就是为了解决现有技术存在的上述不足，提供一种GPU测试验证板，结构与GPU基本一致，可将GPU链路高速信号引出，用于测试需要。

本发明解决其技术问题所采取的技术方案是：

一种GPU测试验证板，包括验证板，所述的验证板包括布线层，所述的布线层为双层线路板，所述的布线层一面连接SMP连接器，所述布线层另一面连接GPU连接器；SMP连接器为射频连接的接口，用来连接示波器线缆，然后将信号传输到示波器。

GPU连接器配合待测板上的待测板GPU接口，一般情况下待测板GPU接口为母头，GPU连接器为公头，在测试的时候接插配合。

所述的布线层包括布线一层、布线二层，所述的布线一层、布线二层之间设有pp层，所述的布线一层内的导线与布线二层内的导线垂直。pp层为电路板压合胶。

PCB走线设计，是采用布线一层、布线二层双信号层，为避免信号串扰较大，采用以下几种方式进行处理：

布线一层、布线二层间采用厚PP进行隔离；

TX信号与RX信号分层布线，布线一层走TX信号，布线二层走RX信号；

TX信号与RX信号走线避免平行布线，走垂直交叉模式

一种GPU测试验证板，还包括固定模块、保护模块，所述的固定模块、保护模块分别安装在验证板两面，螺栓依次穿过固定模块、验证板、保护模块。这样将验证板夹在保护模块上。

所述的固定模块安装在布线层的SMP连接器一面，所述的固定模块开有避开SMP连接器的缺口，所述的保护模块安装在布线层的GPU连接器一面，所述的保护模块开有避开GPU连接器的GPU连接器缺口，所述的保护模块为镀有黑胶的铁板。