[发明专利]图像坏点检测、校正方法及装置、存储介质、摄像设备

说明书

一种图像坏点检测、校正方法及装置、存储介质、摄像设备，图像坏点检测方法包括：获取待检测图像，所述待检测图像为4cell格式图像；对所述待检测图像进行一级Haar小波分解，以得到低频子带和三个高频子带；根据所述三个高频子带各个点处高频系数的绝对值确定数值矩阵；在所述数值矩阵上逐点移动滑动窗口，每次移动所述滑动窗口后，确定所述滑动窗口内的中心数值与其邻域内最大数值的大小关系，并根据所述大小关系确定所述中心数值对应的所述待检测图像中的像素块是否存在坏点，直至遍历完成所述数值矩阵。本发明技术方案能够提高4cell格式传感器所获取的图像质量。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种图像坏点检测、校正方法及装置、存储介质、摄像设备。

背景技术

目前，用于采集数字图像的传感器主要分为两种：电荷耦合器件(Charge CoupledDevice，简称CCD)以及互补金属氧化物主动式像素传感器(Complementary Metal OxideSemiconductor，简称CMOS)。通常会在CCD或者CMOS表面上覆盖一层彩色滤波阵列(ColorFilter Array，简称CFA)。

现在主流的彩色滤波阵列通常是拜耳(Bayer)格式的，而近些年出现了一种Bayer阵列的改良型4cell格式彩色滤波阵列，其排列组合方式有四种，请参照图1至图4，分别是BBBB-GGGG-GGGG-RRRR(图1)，GGGG-BBBB--RRRR-GGGG(图2)，RRRR-GGGG-GGGG-BBBB(图3)，和GGGG-RRRR-BBBB-GGGG(图4)。与Bayer格式传感器相比，4cell格式传感器中相同颜色通道具有更高的感光面积，因此4cell格式传感器具有更高的信噪比。

但是，由于图像传感器制造工艺存在缺陷，或者光信号进行转化的过程中出现错误，会造成图像上有些像素的信息有误，导致图像中的像素值不准确，这些有缺陷的像素即为图像坏点。一般坏点分为静态坏点和动态坏点：静态坏点指的是不会随时间、增益等改变，在传感器制造时因为工艺等产生的坏点；动态坏点指的是因为增益、温度等引起的会随着时间变化而改变的坏点。如果4cell格式传感器所获取的RAW图像中存在坏点的话，在进行插值和去噪处理的时候，会影响周围的像素点，最终会导致图像质量下降，因此需要在插值和去噪之前对坏点进行校正。

发明内容

本发明解决的技术问题是如何提高4cell格式传感器所获取的图像质量。

为解决上述技术问题，本发明实施例公开了一种坏点检测方法，所述方法包括：获取待检测图像，所述待检测图像为4cell格式图像；对所述待检测图像进行一级Haar小波分解，以得到低频子带和三个高频子带，所述待检测图像中的2×2大小的像素块与低频子带以及三个高频子带中的点相对应；根据所述三个高频子带中各个点处高频系数的绝对值确定数值矩阵，所述数值矩阵的大小与所述三个高频子带的大小一致；在所述数值矩阵上逐点移动滑动窗口，每次移动所述滑动窗口后，确定所述滑动窗口内的中心数值与其邻域内最大数值的大小关系，并根据所述大小关系确定所述中心数值对应的所述待检测图像中的像素块是否存在坏点，直至遍历完成所述数值矩阵，所述中心数值为处于所述滑动窗口中心位置处的数值。

可选的，所述根据所述三个高频子带中各个点处高频系数的绝对值确定数值矩阵包括：确定所述三个高频子带中处于各个点处高频系数的绝对值的最大值，以形成所述数值矩阵。

可选的，所述根据所述三个高频子带各个点处高频系数的绝对值确定数值矩阵包括：确定所述三个高频子带中处于各个点处高频系数的绝对值之和，以形成所述数值矩阵。

可选的，所述根据所述大小关系确定所述中心数值对应的所述待检测图像中的像素块是否存在坏点包括：如果所述大小关系表示所述中心数值与其邻域内最大数值的差值大于预设阈值，则判定所述中心数值对应的所述待检测图像中的像素块存在坏点。