[发明专利]基于逐次比较法的荧光寿命测量方式

权利要求书

1.基于逐次比较法的荧光寿命测量方式，其特征在于：具体实施方案为：

（1）基于逐次比较法的荧光寿命测量方式的系统结构

荧光寿命测量方式的系统结构包括高频脉冲源、涂有荧光染料样品、光子探测单元以及两个模拟域比较器；当高频脉冲激光照射涂有荧光染料的样品后，荧光染料会辐射出与入射光波长不同的荧光光线；这些辐射出的荧光光线照射到光子探测单元，被转化为电压信号，送入两个模拟域比较器；比较器一保存下整个测量过程中各个时间段所输出的最高电压，比较器二保存下整个测量过程中各个时间段所输出的最低电压；最终传感器将最高电压、最低电压与采集到最低电压的时刻输出，即可计算出荧光寿命；

（2）荧光寿命计算算法

荧光寿命，即荧光光强衰减到其峰值的所需要的时间；将整个测量时间T分为n个曝光时间，每个曝光时间为：

在每个曝光时间结束后，将光探测单元的输出分别传入两个比较器；在比较器一中判断其是否比参考电压高，若比参考电压高则输出，否则输出保持参考电压；在比较器二中判断其是否比参考电压低，若比参考电压低则输出及当前时间，否则输出保持参考电压及参考时刻；整个测量时间T结束以后，比较器一输出，比较器二输出及时间，根据荧光寿命的衰减函数

即可得到荧光寿命

。