[发明专利]基于自供电栅的有机薄膜晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201811359069.8 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN109545968B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 陈惠鹏;汪秀梅;郭太良;方圆;杨辉煌;陈奇珍 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40;H01L51/05;H01L51/10
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊;丘鸿超
地址: 350108 福建省福州市闽*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 基于 供电 有机 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于自供电栅的有机薄膜晶体管,其特征在于,包括:压电栅、设置在所述压电栅上的绝缘层、设置在所述绝缘层上的有机半导体层、设置在所述有机半导体层上的源极和漏极;

所述压电栅自下而上依次包括:下表面电极、压电薄膜或铁电驻极体、上表面电极;

所述上表面电极作为栅极直接和绝缘层通过接触相连,下表面电极通过导线连接源极,实现在栅极和源极之间产生电压差,在绝缘层和半导体层界面处感应出载流子,实现自供电栅压的调控作用;将所述源极和漏极与外部电源相连,外加源漏电压,使晶体管器件正常工作;

在使用过程中,通过施加压力在上表面电极和下表面电极之间产生电压差。

2.根据权利要求1所述的基于自供电栅的有机薄膜晶体管,其特征在于:所述上表面电极和下表面电极的材质为金或银,厚度为30 nm至50 nm;所述压电薄膜或铁电驻极体的厚度为15 um至100 um。

3.根据权利要求1所述的基于自供电栅的有机薄膜晶体管,其特征在于:所述绝缘层为厚度为500 nm至2000 nm的有机聚合物绝缘层材料或厚度为60 nm至300 nm的无机绝缘层材料。

4.根据权利要求1所述的基于自供电栅的有机薄膜晶体管,其特征在于:所述有机半导体层的厚度为30 nm至50 nm;所述源极和漏极的材质为金、银或铝,厚度为20 nm至80 nm。

5.根据权利要求1所述的基于自供电栅的有机薄膜晶体管,其特征在于:所述下表面电极通过导线连接源极;所述源极和漏极与外部电源相连。

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