[发明专利]显示面板及其检测方法

说明书

公开了一种显示面板及其检测方法，该显示面板包括分别位于显示面板的显示区域和非显示区域且相互连接的电极信号线和扇形配线线路，还包括：与电极信号线连接的第一驱动芯片和与扇形配线线路连接的第二驱动芯片；以及与电极信号线连接且与第二驱动芯片相对的信号提供电路，信号提供电路包括多个第一晶体管，奇数级和偶数级的第一晶体管的第一极分别连接第一信号输入端和第二信号输入端，第二驱动芯片包括多个第二晶体管，且奇数级的第一晶体管的第二极通过电极信号线和扇形配线线路连接至第二晶体管的第一极。本公开的显示面板可以将TFT制作在IC内部，能在检测扇形配线线路是否故障的同时兼顾源极充电的需求。

技术领域

本发明涉及液晶显示领域，特别涉及一种显示面板及其检测方法。

背景技术

薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器(LCD)的阵列基板经过复杂的工艺流程制造，基板上的线路容易形成开路和短路现象，检测出基板上线路的开路和短路并进行维修可提高产品的良率。

而在TFT LCD中大部分会采用双向驱动设计或者GIA(gate in array)驱动设计，显示区域或扇形配线线路开路或短路完全无法检出，目前此种检测方式会导致液晶模组形成水平淡线无法检测出来，漏放至后续制程，影响产品良率。目前点灯测试时也常用到线路检测，两种常用方法是使用镭射激光切割方式或者压缩源极输入端TFT大小将检测线路做到IC内部。镭射激光切割方式会在检测后多一道切割制程，而压缩TFT，会导致TFT过小，无法满足充电需求。如果在进行检测时，IC内部位置不够，线路从IC外部铺设，又会导致无法检测出扇形配线线路电路的短路或开路问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种显示面板及其检测方法，可以将TFT制作在IC内部，能在检测扇形配线线路是否故障的同时兼顾源极充电的需求。

根据本发明第一方面，提供一种显示面板，包括分别位于所述显示面板的显示区域和非显示区域且相互连接的电极信号线和扇形配线线路，还包括：与所述电极信号线连接的第一驱动芯片和与所述扇形配线线路连接的第二驱动芯片；以及与所述电极信号线连接且与所述第二驱动芯片相对的信号提供电路，所述信号提供电路包括多个第一晶体管，奇数级和偶数级的所述第一晶体管的第一极分别连接第一信号输入端和第二信号输入端，所述第二驱动芯片包括多个第二晶体管，且奇数级的所述第一晶体管的第二极通过所述电极信号线和所述扇形配线线路连接至所述第二晶体管的第一极。

优选地，所述电极信号线包括阵列排布的第一电极信号线和第二电极信号线，所述第一电极信号线与所述第一驱动芯片连接，所述第二电极信号线通过所述扇形配线线路与所述第二驱动芯片连接。

优选地，所述第二电极信号线与所述第一晶体管的第二极一一对应连接。

优选地，所述第二晶体管的第二极通过所述扇形配线线路和所述第二电极连接线连接至偶数级的所述第一晶体管的第二极。

优选地，每两条相邻的所述第二电极信号线之间连接有一个第二晶体管，所述第一晶体管的数量为所述第二晶体管的数量的二倍。

优选地，奇数级的所述第一晶体管和偶数级的所述第一晶体管的类型不同，奇数级和偶数级的所述第一晶体管的控制极分别接收第一控制信号和第二控制信号，所述第二晶体管的控制极接收第三控制信号。

优选地，所述第二晶体管的第二极共同连接至第三信号输入端，所述第二晶体管的控制极接收第三控制信号。

优选地，奇数级的所述第一晶体管和偶数级的所述第一晶体管的类型相同，所有所述第一晶体管的控制极均接收第一控制信号，所述第一晶体管的数量与所述第二晶体管的数量相同。

优选地，所述第一电极信号线为栅极线，所述第二电极信号线为源极线；所述第一驱动芯片为栅极驱动芯片，所述第二驱动芯片为源极驱动芯片；奇数级的所述第一晶体管和所述第二晶体管为N型MOS管。