[发明专利]一种液晶面板缺陷检测方法及其系统

权利要求书

1.一种液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

S1、基准图像制作步骤，采集基准液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理，作为对比基准图像，通过软件透过灰阶差区分出所述采集到的各区域图像中的背光区和液晶面板区的边缘界限，记录每一区域像素灰阶值，界定各区域灰阶值范围；

S2、待检测液晶面板图像制作步骤，以过曝状态采集待检测液晶面板图像，并获得各区域的灰阶值范围；

S3、识别待检测液晶面板各区域步骤，将所述待检测液晶面板各区域图像与所述基准图像进行对比分析，根据所述基准图像各区域灰阶值范围识别所述待检测液晶面板图像中的各区域进而获知其背光区和液晶面板区；

S4、鉴别缺陷步骤，分析识别出的所述检测液晶面板区域图像四边的直线度，并与所述基准图像相应位置作比对，当两者的差值超过预定数值时，则认为所述待检测液晶面板存在缺陷，其中所述预定数值在0.1～0.5mm范围内。

2.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S4中检测出的所述缺陷包括切割精度异常缺陷，其为对比待检测液晶面板图像与对比基准图像的边缘界限，计算所述待检测液晶面板图像中与对比基准图像中面板相应各边的边长偏差值，当任一边长偏差值大于所述预定数值时，其属于切割精度异常缺陷；其中所述预定数值在0.15～0.5mm范围内。

3.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S4中检测出的所述缺陷包括切凸边凸角缺陷，其为计算待检测液晶面板图像与对比基准图像中相应面板各边的距离，当所述待检测液晶面板区任一边突出所述对比基准面板区相应边的距离数值大于所述预定数值时，其属于凸边凸角缺陷；其中所述预定数值在0.1-0.25mm范围内。

4.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S4中检测出的所述缺陷包括破片缺陷，其为计算待检测液晶面板图像与对比基准图像中面板相应各边的距离，当所述待检测液晶面板区任一边缩进所述对比基准面板区相应边的距离数值大于所述预定数值时，其属于破片缺陷；其中所述预定数值在0.1-0.25mm范围内。

5.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，还包括步骤：

S5、统计缺陷像素数量步骤，在处理单元计算待检测液晶面板与对比基准面板的差异像素点数量，当所述差异像素点数量大于5时，为待检测液晶面板缺陷像素数量，根据所述待检测液晶面板缺陷像素数量的大小划分缺陷等级。

6.根据权利要求5所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S5所述根据所述待检测液晶面板缺陷像素数量的大小划分缺陷等级具体包括：

按照步骤S4所述切割精度异常缺陷、凸边凸角缺陷、破片缺陷分别统计计算得出所述待检测液晶面板缺陷像素数量。

7.根据权利要求5所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S5所述根据所述待检测液晶面板缺陷像素数量的大小划分缺陷等级具体包括：

按照步骤S4所述切割精度异常缺陷、凸边凸角缺陷、破片缺陷加权求和计算得出所述待检测液晶面板缺陷像素数量。

8.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S2所述以过曝状态采集待检测液晶面板图像的方式是将拍照镜头上的偏光效果去除，使其呈现过曝状态，从而拍摄获得待检测液晶面板图像。

9.根据权利要求8所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，所述将拍照镜头上的偏光效果去除的方式是通过马达驱动所述拍照镜头上的偏光片移开，或通过马达驱动所述拍照镜头上的偏光片的上偏光片或下偏光片旋转90度，使上偏光片与下偏光片偏振方向平行而不具有偏光效果。

10.一种液晶面板缺陷检测系统，其特征在于，包括：

API检测装置，用于处理接收的数据和输出处理结果；

拍照镜头，用于拍摄获得对比基准图像和待检测液晶面板图像并将所述图像数据发送给所述API检测装置，所述拍照镜头包括偏光片(Polarizer，POL)、感光元件；

马达，用于将拍照镜头上的偏光片移动；

背光装置，用于拍摄时提供背光源，所述背光装置定义的背光区的中心与所述拍照镜头相对设置；

支撑结构，位于所述背光装置的周围，所述支撑结构围成的区域范围与所述背光装置定义的背光区相对设置。